Hallo Kurt,
wo fange ich hier an?[;)]
Wieder ein extrem fundierter Bericht Deinerseits mit zwei Ideen, die ich lange gesucht habe[:p]
Der Reihe nach:
Die Angabe der Mess-Unsicherheit ist einfach der nächste Schritt für uns Amateure.
Vielleicht lässt sich daraus ein Erfahrungsschatz für verschiedene Fälle zusammentragen? Ich habe mich bisher immer damit begnügt, während der Auswertungen zu schauen ob das alles plausibel ist. Allerdings habe ich sämtliches Material noch auf der Platte und könnte das prinzipiell nachholen.
Meiner Meinung nach darf man anhand der Strehlwerte die Standard-Abweichung nicht direkt berechnen sondern muss das mittels RMS Wert machen. Und danach erst in Strehl umrechen. Im Falle von engen Fehlergrenzen kommt ähnliches heraus, klar. Bei weiten Grenzen funktioniert das nicht mehr und die Messunsicherheit bezieht sich ja immer auf die Messgröße, das ist der RMS Wert, und nicht auf die abgeleitete Größe.
Kurze Frage:
Seit wann gibt OpenFringe den PV wert an? Hab ich da eine neue Version verspasst?[;)]
PV und RMS stehen ja für einzelne Zernikes jeweils in einem festen Zusammenhang. Aber PV ist irgendwie anschaulicher.
Jetzt zu Bild 16 und 17, die A-B Methode!
Da stecken zwei super Ideen drin!
Zum einen kann man damit den Restfehler abzüglich der ersten X Zernikes bestimmen. Daraus lässt sich das Fehlerspektrum gewinnen, also eine Darstellung der Fehlerhöhe in Abhängigkeit der lateralen Ausdehnung!
Zum zweiten zeigt Bild 17 im Ansatz bereits das bekannte Wurzel(n) Gesetz für die Anzahl der Messungen. Wie man das methodisch ausbauen kann, darüber müsste man intensiv nachdenken. Diese Fehlermittelung ist nämlich der ganz große Wurf, der mit OpenFringe möglich geworden ist! Hier geht es um <i>fundierte</i> Steigerung der Genauigkeit in Größenordnungen!
Zur Mikrorauheit:
Das ist ja nach wie vor mysteriös und meiner Meinung nach gilt es die Lücke unterhalb der lateralen Auflösung von einigen Millimetern zu stopfen. Das kann natürlich nicht mehr für den gesamten Spiegel erfolgen! Man wird sich auf Stichproben von Zehntelmillimeter-Quadraten oder noch weniger beschränken müssen. Die Profis machen das ja auch nur so. Wie auch immer das im Detail gelöst ist.
Als extremen Anhaltspunkt habe ich von einer Messung gelesen mit einem Messfeld von 2.5x2.5nm und einer RMS (surface) von 0.1nm!
PDF: http://tinyurl.com/7j6qjc9
Prüfling war die Bruckkante eines Borosilikatglases. Da sieht man einzelne Atomlagen! Das dürfte in jedem Fall das bestmögliche Ergebnis <i>irgendeiner</i> Politur sein.
In diesem Licht erscheint mir das plausibel:
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Danach erreicht man für besonders hochwertige Optik RMS- (Oberfläche) von 0.5 nm (Quelle leider vergessen). <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Auf jeden Fall ist das ein eigenes Thema Wert!
Klasse gemacht Kurt![:)]
Viele Grüße
Kai
