Hallo zusammen,
Ich möchte die Linearitätskurve einer ZWO Asi1600mm messen, die für Photometrie genutzt werden soll, und frage mich vielleicht etwas seltsames: <b>Macht es irgendeinen Sinn einen Linearitätstest für jedes Pixel einzeln zu machen?</b>
Jemand hat mich auf dem Gedanken gebracht, weil bei einem CMOS-Chip das Auslesen theoretisch für jedes Pixel sehr unterschiedlich sein könnte, und die Anzahl der gesampelten Pixel bei einem Stern später viel kleiner sein wird als das Sample, das ich bis jetzt für den Test benutzt habe (fast 790 kpixel).
Bisher mache ich das so: Das Ausleserauschen korrigiere ich mit einem Bias. Dann messe ich den mittleren pixel count innerhalb einer kreisförmigen Region und erstelle halt einen Plot. Bisher kommt da auch eine sehr lineare Kurve raus (Hab aber noch nicht den ganzen Bereich abgedeckt, bisher nur den Teil kurz vor der Sättigung erwischt).
Im Internet gibt es nichts dazu und ich habe auch noch nie gesehen, dass jemand einzelne Pixel benutzt hat. Ich würde erwarten, dass das wenn dann sinnvoll ist, wenn man sehr viele Messungen macht, weil man sonst nur das Rauschen der Pixel sieht.
Ich habe nicht viel Erfahrung würde aber auch denken, dass der Effekt eher verschwindend ist und es deswegen overkill wäre.
Abgesehen davon wäre es ein totales Chaos, wenn jedes Pixel signifikant anders reagieren würde, oder?
Trotzdem fand ich die Frage interessant und bin gespannt auf Antworten und Erfahrungen dazu. Vielleicht werde ich ja überrascht.
Viele Grüße,
Marine