Hallo Norbert,
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: norbert_loechel</i>
<br />Hallo Kurt,
danke für die rasche Untersuchung der Schrägstellung! Der Michael hatte ja schon richtig vermutet, dass durch die Aufweitung des Strahls am Strahlteiler dessen Oberflächenfehler (dazu gehören ja auch Kratzer) die Qualität des Interferogramms verschlechtern werden.
Es freut mich trotzdem, dass es prinzipiell zu gehen scheint!
Gruß
Norbert
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Michael hat das klar differenziert. Abweichungen von der Planität des PDI- Filters würden sich praktisch nur bei Schrägstellung als opt. Fehler z. B. als Astigmatismus bemerkbar machen aber nicht unbedingt die Qualität (Saunberkeit und Rauheit) der Interferogramme stören. Dagegen erzeugen Löcher und Kratzer in der Schicht in unmittelbarer Nähe des ausgesuchten Loches zusätzliche "Referenzwellenfronten", wodurch die Feinstruktur der Interferenzstreifen erheblich gestört werden kann. Das ist in meinem oben gezeigten Beispiel der Fall. Aber dieses Interferogramm ist noch einigermaßen gut auswertbar.
Gruß Kurt