Hallo Martin,
ich habe mir Gedanken gemacht zum Prüfstand-Astigmatismus. Da ich zwischendurch anderweitig beschäftigt war, musste das Cassegrain-Projekt etwas warten.
Wegen des seitlichen Versatzes sieht man den Feld-Astigmatismus der optischen Abbildung. Das habe ich schon bei der Prüfung des konvexen Probeglases mit dem PDI gesehen.
Beim PDI hat man folgende Situation: Die Prüfwellenfront entsteht am Ort der Prüffläche selbst und läuft dann auf den Fokus zu. Um das messtechnisch zu erfassen braucht es einen gewissen seitlichen Versatz, man hat somit eine offaxis Abbildung. Die Referenzwellenfront entsteht aber am Pinhole direkt in Fokusnähe und man hat hier eine onaxis Wellenfront.
Bei meinem Aufbau ist es aber so, dass Prüf- und Referenzwellenfront am selben Ort entstehen. Der Feld-Astigmatismus ist also in beiden Wellenfronten gleichermaßen enthalten. Er wird somit nicht mitgemessen.
Dennoch habe ich meinen Aufbau modifiziert und das Umlenkprisma durch einen Strahlteilerwürfel ersetzt. So kann ich wirklich onaxis messen.
Die Laserdiode in der Aluplatte leuchtet waagrecht und der Strahlteiler lenkt das in die Senkrechte um. Die Hälfte der Intensität geht natürlich waagrecht durch den Strahlteiler und ist damit verloren.
Am Boden liegt das Prüfglas und aufliegend der Spiegel. Der reflektierte Strahl, der das Interferogramm enthält, geht zum Teil wieder zurück zur Diode und zum Teil auf die Mattscheibe. Der Anteil, der zur Diode geht ist zwar verloren, aber sehr hilfreich bei der Einrichtung des gesamten Aufbaus. Man muss nur den Fokus in die Diode legen und ist damit automatisch onaxis und im optischen Krümmungsmittelpunkt.
Da hier Prüf- und Referenzwellenfront gleichermaßen durch den Strahlteiler laufen, ist die optische Qualität des Strahlteilers von untergeordneter Bedeutung. (Bei einem ähnlichen Aufbau mit PDI bräuchte es einen ausgezeichneten Strahlteiler, da hier nur die Prüfwellenfornt durch den Teiler gehen würde).
Dieses Foto zeigt den Aufbau von schräg oben. Um eine große Schärfentiefe zu erreichen wurde stark abgeblendet, was hier im Foto zu einem starken Speckle-Muster führt.
Auf der Mattscheibe sieht man das Interferogramm des Spiegels mit bereits begonnener Hyperbolisierung.
Der Kreis ringsherum ist die Reflexion vom überstehenden Teil des Prüfglases.
Über die ganze Mattscheibe verteilt ist ein weiteres schwaches Interferogramm sichtbar. Hier interferieren zwei Seiten des Strahlteilerwürfels, die von der Diode abgewandte und dem Spiegel zugewandte Seite. Man sieht, dass für diesen Würfel diese Seiten nicht exakt plan-parallel sind. Bei der Auswertung sollte dieses überlagerte schwache Interferogramm nicht stören.
Der nächste Schritt wird jetzt sein, dass ich mich mit der Auswertung der Ineterferogramme mit openFringe beschäftige.
Viele Grüße,
Andreas