Beiträge von Kurt im Thema „Mikrorauheit und deren Messung-Teil 2“

  • Mikrorauheit und deren Messung-Teil 2

    Hallo, Rainer, hallo Alois, liebe Mitleser,
    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: rainer-l</i>
    <br />Hallo Alois


    "Ich bekomme immer mehr den Eindruck das die Lambda 1/4 Phase als Kontrastbedingung nicht zutrifft ."
    Da hast Du sicher Recht . Lambda 1/4 Phasenunterschied zwischen 0. und 1. Ordnung ist nur eine Bedingung damit die einfache Lyotformel quantitativ gilt . Die zweite Bedingung ist das die Höhenfehler sehr klein sind . Trifft eine dieser Bedingungen nicht zu , wird die Berechnung etwas aufwendiger . Das wird uns bei der kalibrierung des Verfahrens wahrscheinlich noch beschäftigen.
    Deshalb bin ich auch schon auf deinen glatten sphärischen Spiegel gespannt .


    Viele Grüße Rainer
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    das sehe ich genauso. Meine Bilder 1,3 und 5 zeigen keine kleinen Höhenfehler, denn man kann sie mühelos auch mit Foucault darstellen. Selbstverständlich wäre die reproduzierbare Quantifizierbarkeit derartiger Fehler ohne den Aufwand hoch auflösender Interferometer ein praktischer Gewinn. Da schätze ich die Chancen für die Lyot-Messung höher ein als für die Foucaultmessung. Anderseits, wenn nach sorgfältiger Pechpolitur ein hoch aufgelöstes Foucault- Bild keine Unregelmäßigkeiten mehr zeigt dann sich auch die Lyot- Messung sparen. Hier noch mal ein Beispiel für ein hoch aufgelöstes Foucault-Bild zu dem Prüfling gemäß meinem Lyot- Bild 4


    <b>Bild 6</b>

    Hier brauch ich nur zu wissen dass man mit einen harten Minitool keine hinreichend glatte Flächen produzieren kann und brauch auch keine Lyot- Messungen- oder Tests mehr.


    Um Missverständnissen vorzubeugen, mit diesem Beitrag möchte ich keinesfalls den Wert der hervorragend dokumentierten Arbeit von Alois schmälern. Ich bin sehr gespannt darauf was er noch an experimentellen Details zum Thema Phasenkontrast bringen wird.


    Gruß Kurt


    Edit: Tippfehler

  • Mikrorauheit und deren Messung-Teil 2

    Hallo Rainer, liebe Mitleser,


    vielen Dank für deine Interpretation. Ich muss aber vorläufig noch zur Vorsicht raten. Die Qualität meines Silberfilters bezüglich Phasenverschiebung ist nämlich herstellungstechnisch bedingt nicht so genau spezifizierbar.


    <b>Bild 3</b>


    Die Silberschicht allein bringt nur eine verschwindend kleine Phasenverschiebung. Deshalb hab ich durch Politur mit einem besonders harten Tool (20 Striche mit einem angeschäfteten Zahnstocher) etwas nachgeholfen. Das geht naturgemäß nicht so exaktgenau wie mittels Vacuumbedampfung einer zusätzlichen trasparenten Schicht. Die Bilder zeigen aber zumindest näherungsweise wo es lang geht. Nach meiner Schätzung bekommt man beim Kanten- und Streifenfilter die gleichen Bilder und X(rms) Resultate wenn


    a) Filterdichte und Phasenverschiebung gleich und
    b) der Abstand des Spaltbildes auf dem Kantenfilter 1/2 Streifenbreite beträgt.


    Zur Abklärung könnte man mit dem von Alois bei seinen früheren Versuchen genutzten gestuften Streifenfilter ähnliche Versuche zur Quantifizierung Kanten &lt;=&gt; Streifenfilter wiederholen.


    Zum Schluss noch ein Beispiel mit einem ganz anderen Prüfling, allerdings nur mit obigem Streifenfilter. Das ist der de ich schon bei meinen Versuchen zum ASAI durch Einsatz eines Minitools lokal misshandelt hatte.


    <b>Bild 4</b>


    Man sieht hier andeutungsweise „lange Wellen“ wenn das Spaltbild auf dem Streifen nahe dem Streifenrand liegt.


    Gruß Kurt


    PS.: hab doch noch einer Bildserie mit obigem Prüfling und Kantenfilter gefunden. Leider sind mir die Original- RAW verloren gegangen, so dass ich hier keine X(rms)- Auswertung mehr machen kann.


    <b>Bild 5</b>

  • Mikrorauheit und deren Messung-Teil 2

    Hallo Miteinander,


    da es nun in Richtung Quantifizierung der Rauheit geht kann ich auch etwas beitragen.

    Als Erstes hat mich interessiert wie denn die Unterschiede der X(rms) zwischen Kanten- und Streifenfilter aussehen wenn man die Formel von Horia anwendet. Dazu hab ich mir ein chemisch mit Silber belegtes Steifen- Kantenfilter mit 0,4 mm Streifenbreite gestrickt. Die Dichte kann man ja gut fotografisch bestimmen, hier N=33 entsprechend ND 1,5. Die Phasenverschiebung hab ich nicht gemessen. Deshalb kann man nur relative X(rms) angeben.


    <b>Bild 1</b>


    Ausgewertet wurde jeweils der gelb markierte Bereich. Man sieht ähnlich wie bei Bild 52,54,56 und 58 von Alois dass die gröberen Strukturen mit wachsendem Abstand des Spaltbildes von der Kante verschwinden. Demensprechend werden die X(rms) erheblich geringer. Man sieht auch sehr deutlich dass die langen, scheinbar flachen Wellen in Teilbild A links von den Rillen bereits bei Wechsel auf Kantenabstand 0,1 mm völlig unterdrückt werden. (Der Versuch zur Messung der Rillentiefe mittels ASAI ist beabsichtigt).


    <b>Bild 2</b>


    Hier wurde derselbe Prüfling mit dem Streifenfilter analysiert. Die Teilbilder A, B und C ähneln offensichtlich sehr den beiden Teilbildern A und B in Bild 1.


    In Bild 2 sind bei allen 4 Teilbildern die X(rms) praktisch gleich. Daraus kann man schließen dass die Position des Spaltbildes auf dem Streifen relativ unkritisch ist. Das gilt selbstverständlich nur für relativ schmale Streifen sofern das Spaltbild nicht genau auf der Streifenkante liegt und vorsichthalber nur für Prüflinge ohne merkliche sphärische Aberration im RoC- Setup. Sehr wahrscheinlich würde es bei Parabolspiegeln im AC-Setup sowie mit passender Kompensationslinse in RoC ähnlich aussehen.

    Gruß Kurt