Beiträge von Amateurastronom im Thema „Herstellung von Phasenfiltern für Lyot-Test“

Amateurastronom · 5. Februar 2014

<blockquote id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Original erstellt von: Raphael
 Hallo Amateurastronom,
leider kann ich Dir keine PN schicken - melde Dich bitte mal bei mir.
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Ich habe leider durch einen dummen Tippfehler gerade ein Problem
mit dem E-Mail-Provider, hoffe aber, dass ich in den
nächsten Stunden wieder an zukünftige E-Mails dort herankomme.
Warte mal mit Deiner Nachricht, bis ich mich im Laufe der nächsten Stunden dort wieder einwählen kann. Hoffentlich dauert das
nicht 3 Tage.

EDIT: Leider klappt mein Account dank dieser Sicherheitsfeatures immer noch nicht und ich fürchte, das dauert noch 2 Tage.
Ich habe deshalb bei yahoo.de ein Account unter dem gleichem Nutzernamen angelegt, über das ich darüber hoffentlich zwischenzeitlich erreichbar bin.

<blockquote id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">
Ich habe mal eine kleine Liste gemacht.
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Danke im Voraus!

Amateurastronom · 4. Februar 2014

<blockquote id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Original erstellt von: Andreas_D
 
fuer sehr duenne Schichten bis hin zu sub-monolayer ist die Ellipsometry der Industriestandard. Sie beruht auf der Analyse der Polarisation einer im stumpfen Winkel reflektierten Lichtwelle:
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Ja, ich weiss. Die möchte ich in diesem speziellen Fall jedoch nicht verwenden, da die Ergebnisse möglichst direkt separat eindeutig bestimmt sein müssen und sogar juristisch selbst von Winkeladvokaten unangreifbar sein sollten.

<blockquote id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Original erstellt von: mkoch
 
Um die Schichtdicke interferometrisch zu vermessen muss sich auf dem gleichen Substrat auch ein Bereich befinden der nicht beschichtet wurde. An der Grenzlinie haben wir dann eine kleine Stufe. Auf das gesamte Substrat wird eine dünne Alu-Schicht aufgedampft, ... Dann wird die Oberfläche per Fizeau-Interferometer vermessen
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote">

OK, danke. Dann hatte ich das doch richtig verstanden.
Für Eure Zwecke (quasi als Mittel zum Meßzweck) sollte das funktionieren.
Das wäre für meine Zwecke dann evtl. etwas zu wenig präzise.

Amateurastronom · 4. Februar 2014

<blockquote id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Original erstellt von: mkoch
 Daraus ergibt sich 42nm Schichtdicke, also etwas weniger als die interferometrisch gemessenen 50nm.
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote">

Jetzt wird es zwar komplett off-topic, aber mich interessiert das,
da ich gerade ein ganz ähnliches Meßproblem habe:
Da ich zufällig gerade beruflich das Problem habe, die Dicke einer recht
dünnen nichtleitenden Schicht ziemlich exakt zu messen, würde mich interessieren, wie Du die Dicke des Wolfram-Films gemessen hast.

Gefunden habe ich nach Studium von etwas Literatur (Hariharan "Interferometry" usw.) in erster Linie die Methode, ein Spektrometer
dazu einzusetzen.