Beiträge von ebi_ebi im Thema „Mikrorauheit und deren Messung“

    Hallo Kurt,


    die ESO macht zur Qualitätssicherung immer die interferometrischen Messungen. Da gibt es einen außerordentlichen Erfahrungsschatz.


    Nicht umsonst kam mein Hinweis zur Wichtigkeit der Optoelektronik. Denn selbst das VLT ist ein großes Interferometer (VLTI)! Dazu wird das Licht der Teleskope wie beim Projekt SPHERE über ein komplexes, unterirdisches Spiegelsystem so zusammengefügt, dass sich die Weglängen der einzelnen Lichtanteile auf 100 Metern um nicht mehr als 1/1000stel Millimeter unterscheiden. Mit dieser Präzision sind mit dem VLTI Aufnahmen mit einer Winkelauflösung von 1/1000stel Bogensekunden möglich.


    Auf den Aufnahmen könnte man die Scheinwerfer eines Autos unterscheiden, das auf dem Mond rumjuckelt. [;)]


    Wo die genauen Festlegungen zur Spiegelqualität der ESO getroffen sind, habe ich (bisher) nicht gefunden. Vielleicht hat Kai da noch mehr Infos wo evtl. auch der Hersteller benannt wird.


    [:)] Aber...in Niederbayern (Teisnach) hat die Hochschule Deggendorf die größte Optikmaschine der Welt für diese Projekte in Betrieb genommen. Die Maschine soll sehr präzise Teleskopspiegel für die Weltraumforschung mit bis zu zwei Metern Durchmesser serienmäßig herstellen. Ich habe mir vor etwa 2 Jahren die Technik einmal erklären lassen, da war auch bei der Politur die technische Umsetzung von großer Wichtigkeit! Die Rautiefe kann sich (wie schon einmal woanders benannt) durch die Zentrifugalkraft (Rotation große Partikel außen, kleine innen) bei der maschinellen Herstellung zwischen der Mitte und Rand erheblich unterscheiden. Somit ist in der Praxis die Rautiefe an den Rändern immer größer als in der Mitte.

    Wie sie es gelöst haben war aber auch da ihr großes Geheimnis. Poliertechnisch arbeiten sie aber parallel mit der Interferometrie und trotz der großen Spiegel mit relativ kleinen Polierwerkzeugen.


    Sie kennen jedenfalls auch die Spezifikationen und Anforderungen der ESO sehr genau. 800 sehr präzise, "kleine" Spiegel werden allein für das 40 Meter Teleskop benötigt.


    Aber leider ist auch dort Ferienzeit und niemand verfügbar, die Spezifikation lässt sich sicherlich klären.


    LG
    Eberhard

    Hallo Kai,


    zur technischen Realisierung für das AO System SPHERE kommt ein SAXO ( Sphere AO for eXoplanet Observation ) als professionelles Optiksystem zum Einsatz. Es ist eine anspruchsvolles Gesamtsystem, das durch verschiedene Hochleistungs-Teilsysteme mit optimierten Optiken, RTC, EMCCD u. A. die Leistung und damit Auflösung steigert.


    Es spricht nichts dagegen das Vernets Optiken dort verbaut bzw. in Benutzung sind. In dem Projekt ist ohnehin neben den versierten Physikern und Optikern der Opto-Elektroniker gefragt.


    Die Technik (zu SPHERE) hat sich doch in der Spezifikation und damit in den wichtigsten Punkten für professionelle Optiken in der Astronomie sehr verändert...


    Ich denke das ist Gut gemeint von Dir aber lenkt dann doch sehr vom interessanten Thema " Mikrorauheit und deren Messung" ab. [;)]


    LG
    Eberhard

    Hallo Kai,


    wie mir bekannt ist trägt das techn. Projekt zur Exoplanetenforschung den Namen "Spectro-Polarimetric High-contrast Exo-planet REsearch" , also - SPHERE - zum Projekt des VLT der ESO. Co-Projektleiter ist Dr. Markus Feldt von der MPIA in Heidelberg; Da könnte doch sogar für weitere Infos Caro mal aktiv werden. [;)]


    Im Buch "Science with the VLT in the ELT Era" sind viele Projektbeschreibungen mit namentlichen Hinweisen zu den beteiligten Personen.


    LG
    Eberhard

    Hallo Michael,


    das tolle Projekt von Kurt und Kai hatte ich schon mal gelesen. Wirklich klasse gemacht!
    Ich vermute die laterale Auflösung bei etwa 2,3mm Bildfeld wird aber nicht reichen. Vielleicht hat Kurt als Tüftler dazu eine Idee?


    LG
    Eberhard

    Hallo Martin,
    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Trotzdem wäre es natürlich gut, wenn wir Amateure hier auch eine praktikable Messmethode finden würden. Mir scheint, Interferometrie hilft bei Mikrorauhigkeit nun mal nicht wirklich weiter. <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Alois hat genau das richtige Messinstrument vorgestellt um Mikrorauigkeit sehr genau in der benötigten Auflösung zu messen und zu bestimmen. Das Weißlichtinterferometer hat heute eine vertikale Auflösung bis ca. 0,1nm(für Ra &lt; 10nm), eine laterale Auflösung bis etwa 0,6µm bei Bildfeldern bis ca. 7x5 mm. Damit können Aufnahmen von Objekten bis 800mm Kantenlänge gemacht werden.


    Nur es kostet halt eine "Kleinigkeit" und dürfte daher für Amateure unerschwinglich bleiben. Daher wird es leider auch keine leichte und vor allem kostengünstige Sache mit der genauen Quantifizierung der Mikrorauigkeit.


    LG
    Eberhard

    Hallo Thomas,


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Zwei konkrete Beispiele, ein Spiegel mit extremer Rauheit auf sehr kurzen Skalen (&lt; einige mue, und nur dort) reflektiert schlecht, das im Beugungsmaximum fehlende Licht wird völlig diffus in einen sehr großen Winkelbereich abgestrahlt. Bei der Beobachtung heller Planeten und Doppelsterne wird dies kaum stören, denn das Bild ist kontrastreich und scharf, bei Deep Sky fehlt dagegen etwas Licht.
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">....Bei sehr großen Spiegeln, und das ist hier auch nichts Neues, dürfen die Fehler auf großer Längenskala ( &gt; 200 mm) ruhig beträchtlich sein, sie gehen meist im Seeing unter. Ist ein großer Spiegel allerdings sehr rau, vor allem auf kleiner Skala, verschenkt man etwas Lichtleistung, also lichtsammelnde Öffnung. <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Ich habe etwas Bedenken mit deiner einfachen Aussage und versuche es zu erklären. Denn das Licht wird immer an den Rauigkeitsstrukturen gestreut und <u>die Lichtintensität, der Bildkontrast und das Auflösungsvermögen</u> der Abbildungsoptik nehmen bei wachsender Oberflächenrauigkeit ab. Es hängt natürlich <u>wesentlich!</u> davon ab, wie groß die laterale und die vertikale Ausdehnung der Rauigkeitsstrukturen im <u>Vergleich zur verwendeten Lichtwellenlänge</u> ist!


    LG
    Eberhard

    Hallo Gerd,


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Zweifellos ist das kein Automatismus, so alte Hasen wie Kurt bekommen sicher auch eine mäßige Hyperbel mit vorzüglicher Glätte hin.
    Sie sollten allerdings nicht von Ihren eigenen Meisterwerken auf alle Polituren schließen und vor allem nicht auf industriell gefertigte Massenware.
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    Mit der Aussage zur industriell gefertigten Massenware wäre ich vorsichtig. Da hat sich viel verbessert. Die Berliner Glas macht industriell gefertigte, sphärische Optiken mit Typ. 0,2nm! RMS. Die wird man von Hand nicht poliert bekommen.


    Das ist sicherlich nicht Stand der Technik in Fernost, in Deutschland aber schon!


    http://www.berlinerglas.de/de/…uppen/sphaerische-optiken


    LG
    Eberhard

    Hallo Kalle,


    Das ist ja echt klasse. Meine Infos sind aus einem Projekt zu EUVL- bzw. SXPL-Technologien. Ich habe noch Vortragsunterlagen zur Oberflächenbehandlung optischer Flächen, den sogenannten "Sputter"-Technologien. Es beschreibt das Herstellen sehr glatter Oberflächen für Waferstepper. In meinen Unterlagen wird sie auch bezüglich der Clustersputter namentlich zitiert.


    Aber gleich ihre Dissertation im Netz zu finden ist ja wohl der Hammer. Das nenne ich ja mal Transparenz... [:)]


    Und zur "Sputter"-Technologie, die im übrigen Stand der Technik in der prof. Politur von optischen Steppern geworden ist, gibts noch einiges im Netz zu finden.


    Vielen Dank für den Link!


    LG
    Eberhard

    Hallo Interessierte der MiKrorauigkeit (oder der glatten Fläche)!


    Leider bin ich zwar schon länger aus dem Thema raus, möchte aber noch etwas beitragen.

    Bekannt ist doch zunächst, das jede noch so gut polierte Oberfläche Mikrorauigkeit zeigt. Dabei besteht die Abweichung von einer ideal glatten Oberfläche aus unregelmäßigen Strukturen, die je nach ihrer vertikalen und lateralen Ausdehnung und Verteilung das Ausmaß und die Art der Oberflächenrauigkeit festlegen.


    Grundsätzlich kann man sagen, das es nicht trivial erscheint, ein geeignetes Maß zur Charakterisierung von Mikrorauheit (und das Problem der Quantifizierung) zu finden.


    Legt man eine Nullebene fest und definiert man die mittlere quadratische Abweichung der realen Oberfläche von dieser Idealfläche als Maß für die Rauigkeit, so geht die Strukturinformation über die Oberfläche verloren.


    Sinnvoll erscheint es daher, eine spektrale Darstellung zur Charakterisierung vorzunehmen. Bei optischen Oberflächen nun hängen die optischen Eigenschaften u.a. von der Rauigkeit <u>und</u> der Art der Oberflächenstrukturierung ab.


    Wesentlich ist dabei, wie groß die laterale und die vertikale Ausdehnung der Rauigkeitsstrukturen im Vergleich zur verwendeten Lichtwellenlänge ist!


    Das Licht wird an den Rauigkeitsstrukturen gestreut und die <u>Lichtintensität, der Bildkontrast und das Auflösungsvermögen</u> der Abbildungsoptik nehmen bei wachsender Oberflächenrauigkeit ab.


    Ich hatte es bereits für die Lichtstreuung in Verbindung mit der Mikrorauigkeit optischer Oberflächen angesprochen.


    Zitat Eberhard:
    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Dazu noch grundlegende Betrachtungen:


    Horia hat es vortrefflich beschrieben, Skalartheorien sind sehr nützlich, wenn man TIS-Betrachtungen anstellt (Total Integrated Scattering). Mit TIS-RMS wird genau der Anteil des insgesamt an einer optischen Oberfläche reflektierten Lichts bezeichnet, der diffus an den Mikrorauigkeiten in beliebige Raumrichtungen gestreut wird und damit in Richtung des geometrischen Reflexionswinkels verloren geht. Man setzt im Rahmen der skalaren Lichtbeugungstheorie als Wellenfunktion des gestreuten Lichts das altbekannte Fresnel-Kirchhoff´sche Beugungsintegral an. Integriert man nun über die Intensitäten des in die verschiedenen Raumrichtungen gestreuten Lichts, kann man die TIS-Intensität gut abschätzen.


    Die Beziehung zwischen TIS und Rauhigkeit bzw. Lichtwellenlänge liefert für reale optische Oberflächen (wobei auch polierte Metalloberflächen eingeschlossen sind!) im nahen Ultraviolett, im Sichtbaren und im nahen Infrarot gute Vorhersagen. Aus TIS-Messungen konnten außerdem für poliertes Glas Mikrorauigkeitswerte in guter Übereinstimmung mit entsprechenden interferometrischen Rauigkeitsanalysen bestimmt werden.


    Will man jedoch eine präzise Aussagen über die Winkelverteilung von gestreutem Licht machen, liefern Skalartheorien naturgemäß weniger erfolgreiche Vorhersagen. Denn die Winkelverteilung des Streulichts hängt nicht allein von der Höhenfluktuation der Mikrorauigkeiten ab, sondern ebenso von der lateralen Ausdehnung der Strukturen und ihrer Steilheit.


    Das erfolgt mit Vektorstreutheorien. Sie haben im Vergleich zu den skalaren Streutheorien vor allem den Vorteil, daß korrektere Aussagen über die Winkelverteilung des Streulichts möglich sind. Der Grund dafür ist, daß im Rahmen dieser Theorien Polarisationseigenschaften des einfallenden und des gestreuten Lichts ebenso berücksichtigt werden können wie die statistischen Eigenschaften von rauen Streuoberflächen.


    In zwei prinzipiell verschiedene Ansätzen wird dazu die Rauigkeit bezogen auf eine ideal glatte Oberfläche störungstheoretisch wie z.B. für die Small Perturbation Method beschrieben.


    Diese Vektorstreutheorien zur Lichtstreuung an rauhen Oberflächen beschreibt die optischen Eigenschaften einer Oberfläche stets als Funktionen eines 2-dimensionalen Leistungsdichtespektrums (PSD Spektrums). Eine glatte, optische Oberfläche beschreibt daher die fraktalen Parameter und die Mikrorauigkeit der Oberfläche. Denn wie aus der Praxis bekannt, kann eine Fläche mit gleichem Rauigkeitswert bei gleicher Grundfläche unterschiedliche Struktur haben.
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Das Stratton-Chu-Silver-Integral ist beispielsweise das vektorielle Gegenstück zu dem von Horia sehr gut beschriebenen skalaren Fresnel-Kirchhoffschen Integral.


    Im Prinzip kann man mit diesem Integral exakte Antworten zur Lichtstreuung in alle Richtungen geben. Praktisch läßt es sich aber für die Wellenfunktion des gestreuten Lichts nur unter nähernden Annahmen lösen denn die verschiedenen Streutheorien unterscheiden sich nur in ihren verschiedenen Näherungsmethoden.


    Bei der Small Perturbation Methode wird z.B. eine Störungsrechnung betrieben und die Oberflächenrauigkeit als Störung einer perfekt glatten Oberfläche betrachtet.


    Da man bei Störungsrechnungen sinnvollerweise von kleinen Störungen ausgeht, wird mit dieser Streutheorie zunächst nur der Extremfall einer „sehr glatten“ Oberfläche erfaßt, also für das Verhältnis zwischen der mittleren Rauigkeit und der Wellenlänge.


    <b>Man berechnet so die Streuwellenfunktion für eine perfekt glatte Oberfläche.</b>

    Das auf die Streuoberfläche einfallende Licht teilt sich in einen transmittierten und einen reflektierten Intensitätsanteil (in Richtung des geometrischen Reflexionswinkels ohne diffuse Streuung).


    In einem zweiten Schritt wird dann die Oberflächenrauhigkeit als Störung berücksichtigt. Störungstheoretisch heißt das, daß die perfekt glatte Oberfläche 0 ist.


    Und als Ergebnis erhält man bei dieser Störungsrechnung die pro Raumwinkel gestreute Lichtleistung, die proportional zur dimensionalen Leistungsdichtespektrum (2D PSD Spektrum) der Streuoberfläche ist.


    LG
    Eberhard