Hallo Kurt!
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: Kurt</i>
<br />Vielen Dank für die Quellen, die Du ausgegraben hast[^][^][^]. Ich hab nur mal kurz reigeschaut und werde es sicher noch gründlicher machen.
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
In Bezug auf die anderen Messmethoden zur Bestimmung von
Microripple kann ich noch den Artikel hier empfehlen:
http://www.optics.arizona.edu/…ementOfSurfaceQuality.pdf
http://www.optics.arizona.edu/…apter6NotesOnWebPart2.pdf
Zur Vielstrahlinterferenz zur Aufnahme von solchen eindimensionalen quantitativen Profilen steht noch etwas im Born-Wolf und dem
Buch von Twyman.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">
Das ist klar, wenn man denn die RMS- Werte der Rauigkeit kennt, s. Suiter und andere. Selbst auf die "Gefahr" hin, etwas bekanntes zu "erfinden", werde ich jetzt wieder in mein Prüflabor verschwinden und an meiner "Rauhigkeits- Wirkungsmessung" basteln...
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Die kann man wie gesagt z.B. per Vielstrahlinterferenz (im Artikel FECO genannt) messen und dann die MTF abschätzen.
Eine weitere Methode für mikroskopisch kleine Flächen
wäre evtl. auch die Rastertunnelmikroskopie bzw. Rasterkraftmikroskopie. So ein Rastertunnelmikroskop ist heutzutage relativ simpel zu bauen und dies wurde schon von etlichen Amateuren praktiziert (siehe etwa http://sxm4.uni-muenster.de/ ,
http://de.groups.yahoo.com/group/SCHUL-STM/ ).
Theoretisch wäre es denkbar (wenngleich teurer),
ein Instrument zu bauen, so dass es grössere Teilflächen
eines metallisierten Spiegels abtasten kann.
Sowas wurde schon gemacht wie ich gerade sehe:
http://www.optics.arizona.edu/…apter6NotesOnWebPart1.pdf
Es ist nur die Frage, ob sich so ein Aufwand lohnt. Mir
reicht schon der Lyot-Test.