Herstellung von Phasenfiltern für Lyot-Test

    Hallo Rainer
    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Anhand des zweiten Bildes (Interferenz im doppelten Durchgang) habe ich für einen Phasenfehler von +-60° einen Radius von 1,3mm ermittelt . Ist das korrekt ?


    Für diesen nutzbaren Radius r= 1,3mm habe ich ein Beispiel gerechnet welche Fehler damit darstellbar sind .<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    In der höheren Mathematik bin ich leider nicht so gut drauf und kann dir da nicht viel helfen.
    Eher mit einer Beschreibung, was ich sehe.
    Der gepunktete Kreis hat einen Durchmesser von 1 mm
    Der Abstand für ein Lambda, also 2 Streifen da im doppelten Durchgang =7,5 mm .
    Wenn man die Streifen so glätten könnte das keine Arteffakte mehr dabei sind
    würdest du im kleinen Kreis kaum erkennbare Höhenunterschiede finden
    die dann als Bruchteil der durch den Dichteteil gehenden Informationswelle zu werten wären.
    Das sehe ich auch als Grund, warum dies auch mit dem Technical-Pan Film so gut funktioniert.


    Viele Grüße
    Alois


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">

    Der Zweck dieser Berechnung war, dass man auf diese Weise ohne großen Mehraufwand Phasenfilter herstellen kann, die zwei verschiedene Dichten auf dem gleichen Substrat haben. Man kann sich dann aussuchen, welche Seite besser geeignet ist.



    Gruß
    Michael

    Hallo Michael,
    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: mkoch</i>
    <br />Der Zweck dieser Berechnung war, dass man auf diese Weise ohne großen Mehraufwand Phasenfilter herstellen kann, die zwei verschiedene Dichten auf dem gleichen Substrat haben. Man kann sich dann aussuchen, welche Seite besser geeignet ist.



    Gruß
    Michael
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    die Idee ist sehr gut[^] und wir brauchen die Filterchen auch sehr bald[:p]. Bei meinen jüngsten Versuchen mit Rußfilten musste ich leider feststellen dass diese doch ziemlich viel Streulicht erzeugen, was die Quantifizierung merklich beeinträchtigt.


    Nach meiner Einschätzung würde ich die Dichtestufen N= 100 und N=500 vorschlagen. Es stellt sich nur noch die Frage wie sicher kann man bei bekannter Dichte die Phasenverschiebung phi ermitteln? sin(phi) sollte natürlich annähernd = 1 bleiben.


    Zur experimentellen Ermittlung von phi bei Rußfiltern hab ich noch mal Versuche gemacht. Dazu wurde ein hochvergütetes UV- Fotofilter als Kantenfilter mit Ruß (N ca. 40)) belegt. Dieses hab ich dann unmittelbar vor einen 40 mm f/10 Achromaten gestellt und mittels PDI interferometriert. Als Lichtquelle diente eine rote Laserdiode ohne Sammellinse in 3 m Abstand. Hier das auswertbare Igramm:



    Gruß Kurt

    Hallo Kurt,


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: Kurt</i>
    Nach meiner Einschätzung würde ich die Dichtestufen N= 100 und N=500 vorschlagen. Es stellt sich nur noch die Frage wie sicher kann man bei bekannter Dichte die Phasenverschiebung phi ermitteln? sin(phi) sollte natürlich annähernd = 1 bleiben.
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Für lambda/4 Phasenverschiebung bei 550nm muss die Wolfram-Schicht 55nm dick sein, das ist bekannt.
    Ich habe bei 6 verschiedenen Proben sowohl die Dicke vermessen (5 per Interferometer, und eine per Widerstands-Messung), und die Transmission der Schichten vermessen (mit HeNe Laser und Laser-Leistungsmesser). Alle Messergebnisse streuen zwar recht stark, aber man kann eine Gerade in das Diagramm hineinmitteln. So kann man den Zusammenhang zwischen Dicke und Transmission ablesen. Denn die interferometrische Dickenmessung möchte ich umgehen, weil sie eine zusätzlich aufgebrachte Alu-Schicht erfordert und das kostet viel Zeit.
    Aus meiner gemittelten Kurve ergibt sich dass eine 55nm Schicht eine Transmission (einschliesslich Reflexion) von etwa 5% hat, also N = 20. Mit Wolfram wird sich N=100 bis N=500 nicht realisieren lassen.
    Die von David Vernet verwendete Schicht ist angeblich aus Aluminium. Aber das dürfte theoretisch gar nicht funktionieren, denn der Brechungsindex von Alu liegt bei 550nm sehr nahe bei 1.


    Gruß
    Michael

    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">"Die von David Vernet verwendete Schicht ist angeblich aus Aluminium. Aber das dürfte theoretisch gar nicht funktionieren, denn der Brechungsindex von Alu liegt bei 550nm sehr nahe bei 1." <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    Und da er meinte, es würde gut funktionieren, stimmt entweder die Theorie nicht oder er erzählt Stuss. Gespannt, was dabei rauskommt.


    Gruß

    Hallo Michael.<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Der Zweck dieser Berechnung war, dass man auf diese Weise ohne großen Mehraufwand Phasenfilter herstellen kann,
    die zwei verschiedene Dichten auf dem gleichen Substrat haben.
    Man kann sich dann aussuchen, welche Seite besser geeignet ist.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote"> Das hast du sehr gut gemacht und diese Platten sind auch brauchbar.
    Im Fall dass du noch weitere Versuche machst, hätte ich Interesse an solchen Platten.


    Aus meinen derzeitigen Übungen mit dem Phasenkeil, geht hervor das der Lyottest in erster Linie sehr stark auf die Dichte
    und sehr sehr wenig, besser gesagt, sogar fast nicht mit Sicherheit erkennbar auf die Phase reagiert.
    Somit ist die Dichte sehr wichtig, fast egal wie sie zustande kommt.
    Bei der Messung aus dem Krümmungsmittepunkt wären die Dichten
    2,00_ 2,25_2,50_ 2,75_ 3,00_3,25 interessant, wobei eher die höheren Dichten zu bevorzugen sind.


    Viele Grüße
    Alois

    Hallo Alois,


    Gratulation zu Deinem Phasenkeil!
    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: Alois</i>
    <br />Aus meinen derzeitigen Übungen mit dem Phasenkeil, geht hervor das der Lyottest in erster Linie sehr stark auf die Dichte
    und sehr sehr wenig, besser gesagt, sogar fast nicht mit Sicherheit erkennbar auf die Phase reagiert.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    Deine Beobachtung deckt sich recht gut mit den theoretischen Erwartungen, wenn man voraussetzt, dass die Herleitung der Kontrastformel in dem Dokument der Uni Regensburg überhaupt auf dieses Verfahren angewendet werden kann.


    http://www.physik.uni-regensbu…asenkontrastverfahren.pdf


    Für eine Phasenverschiebung von 90° ergibt sich als Näherung für gegenüber der Abschwächung 1/N kleine Wellendefekte rho die vielzitierte Lyotformel, hier mal vereinfacht dargestellt als Kontrast K in Abhängigkeit von dem Wellendefekt


    K=rho*sqrt(N)


    Also eine lineare Abhängigkeit.


    Für eine Phasenverschiebung von 0° erhält man dagegen als Kontrast K


    K=rho^2/(rho^2+2/N)


    Für kleine Wellendefekte (gegen 1/N) ergibt das


    K=rho^2*N/2


    Also eine quadratische Abhängigkeit. Damit ist keine Messung möglich.


    Für große Defekte erhält man


    K=1-2 /(N*rho^2)


    Also praktisch konstante (maximale) Helligkeit.


    Wer wissen möchte, wie die <b>exakte</b> Kontrastfunktion für alle möglichen Parameterkombinationen aussieht, muss nur die im Link angegebene Intensitätsformel in die ebenfalls angegebene Kontrastformel einsetzen und zum Beispiel in Excel eintippen.


    Fazit:
    Der Lyottest ergibt für alle praktischen N-Werte Helligkeitsverteilungen, die auf den ersten Blick scheinbar nur wenig von der Phasenverschiebung des Plättchens abhängen.
    Wenn man jedoch messen will, also mehr möchte als nur Bilder produzieren, muss die Phasenverschiebung schon in der Nähe von 90° liegen, sonst produziert man nur Fahrkarten.

    Vielleicht noch als Idee, wie man mittels Bildstatistik eine korrekte Phasenlage erkennen könnte:


    Bei linearem Verhalten sollte man eine symmetrische Verteilung der Helligkeiten um den Mittelwert erwarten. Bei abweichendem Verhalten, im Extremfall bei quadratischer Abhängigkeit, sollte es eine einseitige Häufung geben, d.h. unsymmetrische Verteilung um den Mittelwert.


    Wenn sich das im Zusammenspiel mit der Phasenverschiebung bestätigen sollte, könnte man wohl davon ausgehen, dass die Anwendung der Regensburg-Formel für den Lyottest zulässig ist. Das wäre schon mal eine gute Grundlage.


    Freundliche Grüße
    Hans-Jürgen

    Hallo Miteinander


    Texereau schreibt tatsächlich "Phase plate partial aluminium film , optical density 1.7
    Lassen wir die Reflexionsverluste zunächst weg , so entspricht dies bei 650 nm Wellenlänge einer Aluminiumschicht von 26nm und einer Phasenverschiebung von 8° .
    Bei 650nm hat Aluminium ein n von 1,55803 also fast identisch mit Kronglas , auf der Glasseite wird es kaum Reflexion geben .
    Es fehlen nur noch 82° Phasenverschiebung die man durch eine phasendrehende Schicht erzielen kann .
    Zitat aus einem älteren Standartwerk für Mikroskopie (vermutlich Köhler),"Aus diesem Grund besteht eine Phasenringplatte immer aus zwei Schichten , einer phasendrehen und einer absorbierenden Schicht" .
    Bei einer zweischichtigen Phasenplatte ergibt sich durch das niedrige n von Aluminium ( 0,9 - 1,55 ) die Möglichkeit 90° Phasenverschiebung bei sehr verschiedenen Abschwächungen zu realisieren . Außerdem sollte man es mit den gleichen Schichten wie Glas vergüten können .


    Phasenkontrastvorrichtungen für die Mikroskopie werden massenhaft produziert und sind (deshalb)noch nicht mal besonders teuer . Vieleicht kennt Jemand eine Firma die solche Schichen aufbringt ?


    Gruß Rainer

    Hallo Hans-Jürgen<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Wenn sich das im Zusammenspiel mit der Phasenverschiebung bestätigen sollte, könnte man wohl davon ausgehen, dass die Anwendung der Regensburg-Formel für den Lyottest zulässig ist. Das wäre schon mal eine gute Grundlage.
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">Ja darauf bin ich auch gespannt.
    Um das so zu zeigen , wie ich es sehe, muss ich noch gif Animationen machen lassen.
    Diese Ripple wandern nämlich Schritt für Schritt über die Fläche weiter.
    Zum Glück habe ich Philipp Salzgeber in meiner Nähe und er hat sich bereit erklärt mir die Animationen zu machen.
    Wenn ich diese habe, dann kann ich den ersten Erlebnisbericht schreiben.


    Viele Grüße
    Alois


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">

    Hallo Hans-Jürgen


    Dein Beitrag hat mir sehr gefallen .
    Außerdem hast Du jetzt (erst) mein Interrese an den etwas unübersichtlichen Formeln der Uni Regensburg geweckt .
    Aus dem Zeigerdiagrammen von Texereau , der Herleitung der Lyotformrel und meiner Herleitung aus dem TIS ergibt sich ebenfalls eine quadratische Abhängigkeit der Intensität von den Fehlernhöhen bei 0° Phasenverschiebung . Genauso muß es bei großen Fehlern einen Therm mit Fehlerhöhenquadrat geben .
    Dein Fazit teile ich voll .


    Gruß Rainer

    Hallo,


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: HJ_Busack</i>
    ... wenn man voraussetzt, dass die Herleitung der Kontrastformel in dem Dokument der Uni Regensburg überhaupt auf dieses Verfahren angewendet werden kann.
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Was in diesem Dokument steht wurde übrigens weitestgehend 1:1 aus dem Buch von H. Beyer übernommen (einschliesslich der Bilder und Zeichnungen). Das Buch wird auch an erster Stelle im Literaturverzeichnis genannt.


    Gruß
    Michael

    <b>Messergebnisse an Wolfram- bedampften Lyot- Phasenfiltern</b>


    Am vergangenen Samstag übergab mir Michael zwei seiner neuesten PDI- Phasenfiltern (mit jeweils 2 unterschiedlichen Belegungen gemäß seinem obigen Bild ) zwecks Vermessung. Danke lieber
    Michael, das mach ich natürlich liebend gerne[:)].

    Uns interessiert hier die opt. Dichte oder Transparenz sowie die Phasenverschiebung phi in der Filterschicht. Die Messmethoden dazu hab ich ja bereits in dem von Horia angelegten Thread Lyotbild– Auswertung. Siehe dort meine Beiträge erstellt am: 01.02.2014 : 16:51:22 Uhr sowie erstellt am: 09.02.2014 : 03:50:02 Uhr und auch in diesen Thread erstellt am: 13.02.2014 : 09:24:46 Uhr.
    Zur Bestimmung von phi hab ich Bei der hier vorgestellten der neuen Messserie wurde zur Bestimmung von phi eine grüner Diodenlaser (532 nm) ohne Optik verwendet.


    <b>Bild 21</b>

    Mit diesem Aufbau bekommt man sehr gut auswertbare I-gramme. Hier ein Beispiel:


    <b>Bild 22</b>


    <b>Bild 23</b>


    Es wurden für jede Filterschicht jeweils 3 Streifenpaare ausgemessen und die Ergebnisse gemittelt.


    Alle Messergebnisse sind in der folgenden Tabelle zusammengefasst.


    <b>Bild 24</b>


    <b>Vorläufiges Fazit:</b>
    1. Die Ermittlung der Transparenz stimmt in Rahmen der Messgenauigkeit gut überein.
    2. Tendenziell ist die Transparenz bei grün geringer als bei rot.
    3. Die Transparenz sollte für ein praktisch gut nutzbares Filter &lt;1% sein, entsprechend N&gt;100.
    4. Die opt. Phasenverschiebung liegt im Bereich von 50 my bis 74 my Schichtdicke.
    5. Zitat Rainer:


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">...Zitat aus einem älteren Standartwerk für Mikroskopie (vermutlich Köhler),"Aus diesem Grund besteht eine Phasenringplatte immer aus zwei Schichten , einer phasendrehen und einer absorbierenden Schicht" .
    Bei einer zweischichtigen Phasenplatte ergibt sich durch das niedrige n von Aluminium ( 0,9 - 1,55 ) die Möglichkeit 90° Phasenverschiebung bei sehr verschiedenen Abschwächungen zu realisieren . Außerdem sollte man es mit den gleichen Schichten wie Glas vergüten können .


    Phasenkontrastvorrichtungen für die Mikroskopie werden massenhaft produziert und sind (deshalb)noch nicht mal besonders teuer . Vielleicht kennt Jemand eine Firma die solche Schichten aufbringt ?...


    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    Michael du hast doch bereits Alu + Wolfram zwecks Dickenmessung bedampft. Was spricht dagegen wenn du eine Schicht Wolfram mit ca. 50 my zu bedampfen und darauf eine Aluschicht zur Gewinnung der gewünschten Dämpfung im Bereich 100 &lt;N &lt; ca. 500 ? (Die Schichtenfolge geht wahrscheinlich auch umgekehrt). Dann hätten wir sehr wahrscheinlich fertig[8D]


    meint Kurt


    Korrektur 17.02.13 21:46
    nach Michaels Hinweis.
    Bild 24, Tabelle: Die richtige Dimension für die Schichtdicke lautet nm, nicht my! Das gilt natürlich ebenso für


    4. Die opt. Phasenverschiebung ....

    Hallo Kurt,


    vielen Dank für deine Messungen. Das wichtigste Ergebnis ist, dass eine Schichtdicke von ca. 55nm (nicht my!) tatsächlich die gewünschte 90° Phasenverschiebung erzeugt.


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: Kurt</i>
    Was spricht dagegen wenn du eine Schicht Wolfram mit ca. 50 my zu bedampfen und darauf eine Aluschicht zur Gewinnung der gewünschten Dämpfung im Bereich 100 &lt;N &lt; ca. 500 ?
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Hmm, das ist nicht so einfach. Das Problem ist, dass das Substrat sehr heiss wird, schätzungsweise einige Hundert Grad. So heiss, dass die Feder-Klammern aus Stahl, mit denen ich die Maske auf dem Glas befestigt hatte, ihre Federkraft weitgehend verlieren. Und dann kann die Maske sehr leicht verrutschen. Das ist kein großes Problem solange man das Substrat nicht anfassen muss. Aber wenn danach noch eine Alu-Schicht bedampft werden soll, dann muss das Substrat rausgenommen werden, ein Stück Alu auf den Wolfram-Draht gehängt werden, und dann muss das Substrat wieder rein in die Kammer. Und zwar dann an eine andere Stelle, nämlich viel weiter von Verdampfer entfernt, damit ich das Schichtdichen-Messgerät verwenden kann.
    Die Frage ist also, wie man die Maske auf dem Substrat befestigen soll, ohne dass sie verrutschen kann. Als Maske habe ich ein 0.05mm Stahlband verwendet, das mit einer zweiten Glasplatte angedrückt wird.


    Gruß
    Michael

    Hallo Michael hallo Kurt


    Der Gedanke einer kombinierten Wolfram-Aluminium Beschichtung ist interessant . Solange die gesamte Abschwächung nicht genau festgelegt ist , braucht auch die Dicke der Al.Schicht nicht genau zu sein . Eine erhebliche Abschwächung kommt schon durch die Reflexion zustande .
    Kann man einen Aluminiumdraht vor (auf) den Wolframdraht aufhängen und dann mit einem Stromstoß wegschmelzen ohne ihn komplett zu verdampfen ?
    Also eine Anordnung finden wo man die Kammer nicht öffnen muß ?


    Etwas anderes : Bei 15nm Schichtdicke haben wir 2,73° Phasenverschiebung pro nm , bei 26nm 2,2° , bei 50nm 1,6° und bei 74nm 1,38° pro nm Schichtdicke .
    Haben sollten wir bei 532nm Wellenlänge n = 3,48765 und damit 1,683° Phasenverschiebung pro nm Schichtdicke . Wie erklären wir diese Messergebnisse ?


    Gruß Rainer

    Hallo Rainer,


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: rainer-l</i>
    Kann man einen Aluminiumdraht vor (auf) den Wolframdraht aufhängen und dann mit einem Stromstoß wegschmelzen ohne ihn komplett zu verdampfen ?
    Also eine Anordnung finden wo man die Kammer nicht öffnen muß ?
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Du meinst, eine genau definierte Menge Aluminium auf den Wolframdraht hängen, dann den Draht nur soweit aufheizen dass zuerst das ganze Alu verdampft und die teildurchlässige Schicht erzeugt, und dann den Draht auf Weissglut aufheizen um die Wolfram-Schicht zu erzeugen? Könnte gehen, hat aber den Nachteil dass ich das Schichtdicken-Messgerät nicht zum Einsatz bringen kann. Denn für die Erzeugung der Wolfram-Schicht muss das Substrat sehr dicht am Verdampfer sein. Sonst würde das zu lange dauern. Man hat nicht beliebig viel Zeit bevor der Draht durchbrennt.


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: rainer-l</i>
    Etwas anderes : Bei 15nm Schichtdicke haben wir 2,73° Phasenverschiebung pro nm , bei 26nm 2,2° , bei 50nm 1,6° und bei 74nm 1,38° pro nm Schichtdicke .
    Haben sollten wir bei 532nm Wellenlänge n = 3,48765 und damit 1,683° Phasenverschiebung pro nm Schichtdicke . Wie erklären wir diese Messergebnisse ?
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Durch Messfehler bei der interferometrischen Dickenmessung. Es war mehr Rätselraten als Messen.

    Gruß
    Michael

    Hallo Rainer,


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">...sollten wir bei 532nm Wellenlänge n = 3,48765 und damit 1,683° Phasenverschiebung pro nm Schichtdicke . Wie erklären wir diese Messergebnisse ?...
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    es gibt keine Messung ohne Messfehler, auch bei mir nicht [:)]. Bei der Messung gemäß Bild 23 führen die natürliche Unschärfe der I-gramme und die Pixel- Auflösung zu Messefehlern. Man könnte diese Fehler durch mühsame, zahlreiche Wiederholmessung spezifizieren. Aber das würde ich hier für übertrieben halten. Ich finde es schon sehr befriedigend dass unsere Messergebnisse auf Anhieb im Rahmen des physikalisch Wahrscheinlichen liegen.

    Bitte nicht vergessen: Wir gehen mit dem hoch empfindlichen Lyot- Verfahren auf Jagd nach Restfehlern in der Größenordnung von TIS 1 Promille und weniger. Da muss man den Messfehler bei der Quantifizierung des verursachenden Fehlers Rauheit (Fehler des Fehlers) nicht so eng setzen wie z.B. für die Brechzahl von Gläsern zur richtigen Berechnung von hochwertigen Abbildungsoptiken. So ist hier die Angabe von „...n = 3,48765…." für Laien eher verwirrend.

    Gruß Kurt

    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Bitte nicht vergessen: Wir gehen mit dem hoch empfindlichen Lyot- Verfahren auf Jagd nach Restfehlern in der Größenordnung von TIS 1 Promille und weniger. Da muss man den Messfehler bei der Quantifizierung des verursachenden Fehlers Rauheit (Fehler des Fehlers) nicht so eng setzen wie z.B. für die Brechzahl von Gläsern zur richtigen Berechnung von hochwertigen Abbildungsoptiken. So ist hier die Angabe von „...n = 3,48765…." für Laien eher verwirrend.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Naja, dass es unbedingt rechnerisch erfasst werden musste, war ja eine Bedingung von einigen, damit man sich überhaupt mit dem Ursprungsthema befasst, und das war, nochmal zur Erinnerung:
    <b>Der Einfluss der genannten Rauheit (micromamelonnage) aufs Bild.</b>
    Deine <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">1 Promille und weniger<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote"> suggerieren gebetsmühlenhaft, dass es total vernachlässigbar wäre und das Bild quasi nicht sichtbar beeinflussen würde. Dagegen stehen die praktischen Erfahrungen anderer.
    Wenn ich den letzten Beitrag von brizhell richtig verstehe, so scheint er mit Vernets Positionen kompatibel.
    Auch sehr gespannt auf Alois Versuchsergebnisse.
    Gruß

    Hallo Michael,


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">vielen Dank für deine Messungen. Das wichtigste Ergebnis ist, dass eine Schichtdicke von ca. 55nm (nicht my!) tatsächlich die gewünschte 90° Phasenverschiebung erzeugt.
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    vielen Dank für die Korrektur. 55 my das wäre ja schon so etwas wie Panzerung gegen Partikelstrahlung[:I].


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"> Hmm, das ist nicht so einfach...<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Ginge es vielleicht besser wenn man zwei dicht bei einander liegende Stahler verwenden würde? Ein Wolframdraht trägt Alu, der andere nicht.


    Gruß Kurt


    Edit: Tippfehler

    Hallo Rolf,<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: rolf</i>
    <br /><blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Bitte nicht vergessen: Wir gehen mit dem hoch empfindlichen Lyot- Verfahren auf Jagd nach Restfehlern in der Größenordnung von TIS 1 Promille und weniger. Da muss man den Messfehler bei der Quantifizierung des verursachenden Fehlers Rauheit (Fehler des Fehlers) nicht so eng setzen wie z.B. für die Brechzahl von Gläsern zur richtigen Berechnung von hochwertigen Abbildungsoptiken. So ist hier die Angabe von „...n = 3,48765…." für Laien eher verwirrend.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Naja, dass es unbedingt rechnerisch erfasst werden musste, war ja eine Bedingung von einigen, damit man sich überhaupt mit dem Ursprungsthema befasst, und das war, nochmal zur Erinnerung:
    <b>Der Einfluss der genannten Rauheit (micromamelonnage) aufs Bild.</b>
    Deine <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">1 Promille und weniger<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote"> suggerieren gebetsmühlenhaft, dass es total vernachlässigbar wäre und das Bild quasi nicht sichtbar beeinflussen würde. Dagegen stehen die praktischen Erfahrungen anderer.
    Wenn ich den letzten Beitrag von brizhell richtig verstehe, so scheint er mit Vernets Positionen kompatibel.
    Auch sehr gespannt auf Alois Versuchsergebnisse.
    Gruß


    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    du hast absolut keine Ahnung von Messtechnik und der dazugehörigen Fehlerdiskussion, kapierst auch nicht was Bernard im frz. Forum rechnet oder was zorgdotnl sinnvollerweise simuliert. Sonst würdest du nämlich solchen Blödsinn nicht schreiben.

    Gruß Kurt

    Hallo Kurt,


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: Kurt</i>
    Ginge es vielleicht besser wenn man zwei dicht bei einander liegende Stahler verwenden würde? Ein Wolframdraht trägt Alu, der andere nicht.
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Ohne Schichtdicken-Messgerät wird das nichts mit zwei Schichten übereinander. Die Wahrscheinlichkeit ist mir zu gering, dass _beide_ Schichten die richtige Dicke bekommen. Bei der Herstellung der Wolfram-Schicht kann ich mein Schichtdicken-Messgerät leider nicht verwenden, aus mehreren Gründen. Erstens ist das Substrat so dicht vor dem Verdampfer, dass da kein Platz mehr für das Messgerät ist. Und zweitens würde das Messgerät sowieso nur Mist anzeigen, weil es da viel zu heiss wird. Für die Wolfram-Schicht weiss ich inzwischen wie lange ich bedampfen muss um ungefähr die richtige Dicke zu erzeugen. Aber +-20% Streuung ist immer noch drin.
    Daher habe ich keine Lust die Alu-Schicht blind ohne Schichtdicken-Messung aufzubringen.
    Man bräuchte eine geeignete Vorrichtung um die Maske fest an der richtigen Stelle zu halten. Die Vorrichtung muss einige Hundert Grad aushalten, und durch die thermische Ausdehnung der Teile darf die Maske nicht verschoben werden. Und die Vorrichtung muss sich möglichst genauso schnell aufheizen wie das Glas, weil sonst das Glas springt. Das ist alles nicht so einfach.


    Gruß
    Michael

    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">du hast absolut keine Ahnung von Messtechnik<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    Das hab ich auch nie beansprucht, das hält mich aber nicht davon ab, die Grundidee im Auge zu behalten, und die hast Du doch hoffentlich nicht vergessen ... und das hat Bernard, den Du bemühst, nämlich gerade gerechnet:
    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Les valeurs de diffusion calculées par Bernard me semblent plus proches de la réalité.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    Gruß

    Rolf


    ich bin mir eigentlich sicher das Michael seine Plättchen sich in der Schichtdicke 1% von 6% unterscheiden und Kurt die daraus entstehenden Fehler bald gemessen hat.
    Du konntest aber die Berechnungen offenlegen anstatt darauf hinzuweisen das jemand irgendwas berechnet hat, dann kann man es mit den Messungen vergleichen, oder meinst du Gott hat gesprochen? so wie ich Kurt kenne misst er es trotzdem nach, es sei denn du demotivierst ihn.


    Gruß Frank

    Hallo Michael,


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">...Die Vorrichtung muss einige Hundert Grad aushalten, und durch die thermische Ausdehnung der Teile darf die Maske nicht verschoben werden. Und die Vorrichtung muss sich möglichst genauso schnell aufheizen wie das Glas, weil sonst das Glas springt. Das ist alles nicht so einfach.


    Gruß
    Michael
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    mir ist schon klar dass man dir aus der Ferne kaum noch hilfreiche Tipps geben kann. Deshalb werde ich mich auch lieber mit der praktische Verwendbarkeit der Probe Nr. 4 gemäß meiner obigen Tabelle beschäftigen und die Ergebnisse vorstellen.


    Gruß Kurt


    PS.: Eine Idee ist mir doch noch gekommen nachdem ich die mechanische Widerstandsfähigkeit deiner Wolfram- Beschichtung getestet habe. Also, so einfach mit demn Finger wegrubbeln lässt sich die Schicht keinesfalls. Man muss schon mit einer scharfen Kante z. B. Teppichmesser herangehen um sie zu beschädigen. Daher mein Vorschlag:


    1. Substrat wie erprobt mit Wolfram belegen, Schichtdicke ca. 50 nm.

    2. Substat entnehmen und eine neue, schmale Blende genau an der Kante fixieren. Dabei kann man sich wahrscheinlich eine Toleranz von 1/100 mm erlauben.


    3. Mit Alu unter Schichtdickenkontrolle bedamfen. Wenn ich das richtig verstanden habe kann man bei diesem Schritt die thermische Belastung des Substats wesentlich geringer halten als bei Pkt.1. Damit wäre wahrscheinlich auch die Fixierung der Blende weniger problematisch.


    Davon abgesehen, weitere Versuche mit dem o. a. Filter 4 werde ich auf jeden Fall durchziehen


    Gruß Kurt

    Hallo Rolf,


    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: rolf</i>
    <br /><blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">du hast absolut keine Ahnung von Messtechnik<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    Das hab ich auch nie beansprucht, das hält mich aber nicht davon ab, die Grundidee im Auge zu behalten, und die hast Du doch hoffentlich nicht vergessen ... und das hat Bernard, den Du bemühst, nämlich gerade gerechnet:
    <blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Les valeurs de diffusion calculées par Bernard me semblent plus proches de la réalité.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
    Gruß
    <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">


    Dann schau dir doch auch mal die Simulation an von
    Zorgdotnl Envoyé 16-02-2014 20:12

    Zitat:


    <i><b>Très pédagogique Bernard!
    J'ai refait la simulation du 300 testé, étoile double type Sirius, avec 10nm PV (~2nm RMS) pour coller aux estimations de David:
    </b></i>
    (Zitat Ende)


    ~2nm RMS Rauheit ist ungefähr das, was man als Amateur bei normaler Pechpolitur ohne große Anstrengung erreichen kann und was man üblichereise von seriösen Produzenten geliefert bekommt. Diese Rauheit verursacht ca. TIS 0,5 Promille. Das suggeriert nicht nur wenig sondern ist es auch. Dh. nur diese 0,5 Promille der Gesamtenergie steht zusätzlich als Störlicht neben unvermeidbaren mindestens 16% Störlicht durch Beugung zur Verfügung. Jetzt schau mal auf die beiden Diagramme:


    <b><i>
    ( C ) Double star PSF image, no noise, Mag 10 difference
    vs.
    ( D ) Double star PSF image, with phase noise, Mag 10 difference
    </i></b>


    Ich sehe da keinen Unterschied. Kurz gesagt, 2 nm RMS Rauheit kann man getrost vergessen.

    Falls du noch immer nicht verstanden hast wieso und warum dann möchte ich dich auch im Namen von Kai höflich bitten einen speziellen Thread zu eröffnen. Wir würden uns dann gerne fachlich beteiligen. Hier in diesem Thread geht es uns erst mal um die Herstellung genau definierter Lyot- Phasenfilter. Ohne diese wären nämlich Lyotmessungen nichts weiter als Fahrkarten. So ähnlich hat das auch schon H. J. Busak in seinem Beitrag erstellt am: 13.02.2014 : 16:59:58 Uhr gesagt.


    Gruß Kurt

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