Hallo Horia,
sehr interessante Tabelle und der „TIS“ scheint mir endlich mal ein brachbares Kriterium um die Mikrorauheit zu beurteilen.
Sehr Gut ist auch Dein Vergleich mit dem Beugungsbedingten „Streulicht“ das schafft da eine Relation mit der man letztlich den TIS vernünftig interpretieren kann.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Nicht zu vergessen, 4nm RMS-Wert als Rauheit sind mindestens 10nm PtV Rauheit. Das kann man ohne Probleme in einem richtig gemachten Foucault-Bild sehen.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Lieber Horia bitte bitte unterscheide zwischen Formfehlern und Welligkeit mit größerer lateraler Ausdehnung und der echten Mikrorauheit.
Formfehler und Welligkeit lässt sich mit Foucault gewiss auf 10nm Pv bestimmen.
Aber ganz gewiss nicht die echte Mikrorauheit mit lateraler Ausdehnung im Mikrometerbereich um die es uns hier geht.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Auch wenn ich nicht der Kai bin: Diese verblüffende Eigenschaft wird in der Literatur verschiedenen Materialien zugesprochen. <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Wir müssen unbedingt zwischen Welligkeit,globalen Formfehlern und der Mikrorauheit unterscheiden!
Wichtig ist auch die Laterale Ausdehnung der globalen Formfehler und der Mikrorauheit zu betrachten.
Laut Kais Theorie hätte ein Spiegel mit 200mm Durchmesser und einem globalen Formfehler mit sagen wir mal 100nm PV Oberfläche bei 20mm Lateral dann maximal 10nm Pv und bei den 0,1mm die Alois zb. mit dem Weillichtinterferometer untersucht hat dementsprechend maximal 200mm/0,1mm 1/2000 also 100nm /2000 = 0,05nm PV.
Man könnte das wenn man die Mikrorauheit ignoriert tatsächlich so rechnen wenn der globale Formfehler absolut gleichmäßig verlaufen würde.
Aber es gibt sie nun mal die Mikrorauheit und Alois hat selbst bei der absoluten Super Politur 3nm PV gemessen.
Bei einer normalen Politur kommt man auf wesentlich größere Werte und trotzdem kann der globale Formfehler auf 100nm PV genau eingehalten sein.
Wenn nun noch ein paar Pits oder Kratzer vorhanden sind käme man auf dramatische PV Werte bei der Mikrorauheit.
(==>) Alois,
Würdest Du es wagen mal abzuschätzen welchen RMS die Polituren BILD B bis C haben?
Eventuell hast Du ja ne Vergleichsmessung mit dem Weißlichtinterferometer für solche Polituren.
Dann könnte man auch mal den TIS für nicht ganz so super perfekte Polituren berechnen.
Grüße Gerd