Lochinterferometrie unter 45 Grad?

Hallo Norbert,

herzlich Willkommen im Forum!

<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">...Von den Verfechtern anderer Interferometer wird den Lochinterferometern manchmal vorgeworfen, dass die Lichtquelle (LED) und das Loch für die Referenzwelle üblicherweise seitlich gegeneinander versetzt sind und dass damit Aberationen entstehen, die nicht im Messobjekt begründet sind...
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">

Dieses Problem ist auch anders lösbar. Der Versatz zwischen Lichtquelle und PDI- Filter ist ja genau definiert und kann auch vernachlässigbar klein gehalten werden. Jedenfalls kann man die resultierenden Aberrationen z. B. bei Auswerteprogrammen wie "Openfringe" rechnerisch kompensieren.

<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Könnte man dieses Problem beheben, indem man die teildurchlässige Platte unter 45 Grad geneigt aufstellt und als Strahteiler verwendet? ...<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Hört sich ganz interessant an. Ich weiß nicht ob das schon mal jemand ausprobiert hat. Vielleicht mach ich das mal.

Das eigentliche Problem mit diesem Inteferometer liegt eher in der mangelnden Verfügbarkeit gut geeigneter PDI- Filter.

Gruß Kurt

Hallo Norbert,

&gt; Könnte man dieses Problem beheben, indem man die teildurchlässige Platte unter 45 Grad geneigt aufstellt und als Strahteiler verwendet? Dann wird zwar aus einem kreisförmigen Loch aus Sicht des Beobachters eine Ellipse, aber solange das Loch kleiner als das Airyscheibchen ist, sollte das nach meinem Verständnis unschädlich sein.

Theoretisch müsste das funktionieren. Zwei Nachteile fallen mir ein:

1. Der von der Punkt-Lichtquelle ausgehende Strahlenkegel hat am Ort des Strahlenteilers schon einige Millimeter Durchmesser, so dass höhere Anforderungen an die Oberflächengenauigkeit des Strahlenteilers gestellt werden. Bei der rücklaufenden Welle wird ja nur ein sehr kleiner Teil der PDI Platte verwendet, so dass die Genauigkeit keine Rolle spielt.

2. Der Vorteil (kein seitlicher Versatz zwischen Lichtquelle und Lochblende) wird erkauft mit dem Nachteil, dass dann ein Versatz entlang der optischen Achse auftritt. Weder die Lichtquelle noch die PDI Platte befinden sich exakt im Krümmungsmittelpunkt des Spiegels. Der Fehler kann aber sehr klein gehalten werden und spielt in der Praxis wahrscheinlich keine Rolle.

Gruss
Michael

Hallo Miteinander,

<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">...Hört sich ganz interessant an. Ich weiß nicht ob das schon mal jemand ausprobiert hat. Vielleicht mach ich das mal.
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
...sagte ich und tat es auf folgende Weise:

Als Prüfling diente ein belegter Parabolspiegel D=205, F = 1005.
Das provisorische PDI- Filter ist ein Stückchen eines älteren metallbedampften Solarfilters, opt. Dichte ND 3,5. Dieses dämpft das vom Prüfling reflektierte Licht auf ca. 0,032%. Die Metallschicht hat unzählige feine Löcher von denen ein passendes herausgesucht, d. h. an die Position des Spiegelfokus justiert wurde. Somit kann man brauchbare Interferogramme einstellen, z. B. so eines:

Allem Anschein nach funktioniert das mit der Schrägstellung ohne prinzipielle Probleme.

Die Qualität der Interferogramme ist ganz erheblich durch die irreguläre Form des genutzten Loches sowie durch die zahlreichen Löcher und feinste Kratzer in der Nachbarschaft gemindert. Anders gesagt, ein einziges wohldefiniertes Löchlein in der semitransparenten Schicht wäre genau das richtige.

Mehr Details zum Lochinterferometer gibt es nachzulesen, z. B. unter:

http://www.astrotreff.de/topic…hTerms=Lochinterferometer

Gruß Kurt

Hallo Norbert,
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote"><i>Original erstellt von: norbert_loechel</i>
<br />Hallo Kurt,

danke für die rasche Untersuchung der Schrägstellung! Der Michael hatte ja schon richtig vermutet, dass durch die Aufweitung des Strahls am Strahlteiler dessen Oberflächenfehler (dazu gehören ja auch Kratzer) die Qualität des Interferogramms verschlechtern werden.

Es freut mich trotzdem, dass es prinzipiell zu gehen scheint!

Gruß
Norbert
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">

Michael hat das klar differenziert. Abweichungen von der Planität des PDI- Filters würden sich praktisch nur bei Schrägstellung als opt. Fehler z. B. als Astigmatismus bemerkbar machen aber nicht unbedingt die Qualität (Saunberkeit und Rauheit) der Interferogramme stören. Dagegen erzeugen Löcher und Kratzer in der Schicht in unmittelbarer Nähe des ausgesuchten Loches zusätzliche "Referenzwellenfronten", wodurch die Feinstruktur der Interferenzstreifen erheblich gestört werden kann. Das ist in meinem oben gezeigten Beispiel der Fall. Aber dieses Interferogramm ist noch einigermaßen gut auswertbar.

Gruß Kurt