Hallo Eberhard,
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Mit der Aussage zur industriell gefertigten Massenware wäre ich vorsichtig. Da hat sich viel verbessert. Die Berliner Glas macht industriell gefertigte, sphärische Optiken mit Typ. 0,2nm! RMS. Die wird man von Hand nicht poliert bekommen.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
sicher kann man sehr sehr glatte Oberflächen erzeugen wenn man das will.
Mit klassischer Pechpolitur erscheinen mir 0,2nm RMS aber schon sehr optimistisch.
Ich orientiere mich da mal an einer der besten Oberflächen die Alois unter dem Weißlichtinterferometer hatte.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Leider habe ich immer nur die besten Flächen gemessen und habe keine Vergleiche für die gröberen Flächen.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Man scheint da aber schon besondere Anstrengungen unternommen zu haben um so eine kleine Mikrorauheit hinzubekommen.
Für „normale“ Pechpolituren hatte Alois auf meine Nachfrage hin ja auch schon Zahlen geliefert.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Ja ich werde es wagen weil ein paar Zahlen habe ich noch im Kopf, die ich damals als Orientierungshilfe hatte.
Bitte aber darum mir +- 5% Toleranz zu zugestehen.
Ein Problem habe ich zusätzlich noch und das ist schlimm.
Die Messungen habe ich damals nicht selber gemacht sondern ein Messtechniker. Ich war nur der Polierer.
Jetzt weis ich nicht wie der Messtechniker das Interferometer eingestellt hat. Auf Oberfläche oder Wellenfront?
Automatsch misst das Interferometer Wellenfront und weil ich nichts gehört habe das es umgestellt worden ist
will ich annenhmen das diese Werte als Wellenfront gelten. Aber ein Faktor 2 Fällt auf, wenn die Rechnungen stimmen.
Und nun die Schätzung
Bild____In nm_________In Lambda 550 nm
_____PV___RMS________ PV______RMS____1/L
A____40___5,00_______0,073____0,009____14
B____25___3,13_______0,046____0,006____22
C____12___1,50_______0,022____0,003____46
D ____8___1,00_______0,015____ 0,002____67
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Es ist hier also bei der Mikrorauheit mit 8 bis 40nm PV bzw. 1 bis 5 nm RMS zu rechnen, wobei nicht ganz klar ist ob das nun Wellenfront oder Oberfläche ist.
Ich bezog mich mit meiner Aussage aber gar nicht auf die Mikrorauheit sondern die hochfrequente Welligkeit die wir auch mit Kais Sinuswelle untersucht hatten und die sich mittels FFT Auswertung noch quantifizieren lässt.
Ich unterscheide ganz klar zwischen der Mikrorauheit mit Fehlern von sehr kleiner lateraler Ausdehnung wie sie nur unter dem Weißlichtinterferometer für recht kleine Flächenausschnitte zu quantifizieren sind und der hochfrequenten Welligkeit mit größerer lateraler Ausdehnung.
(==>)Michael
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Mir ist nicht klar was du jetzt unter "hochfrequenter Welligkeit" verstehst.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Alle Fehler die sich noch mit der FFT Auswertung erfassen lassen.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Wenn ich es richtig verstanden habe, dann hat Alois zwei Interferogramme von irgendeinem Speigel gezeigt, auf denen relativ wenige Interferenzstreifen zu sehen sind. Daraus kann man doch keine hochfrequente Welligkeit bestimmen, egal mit welcher Auswertung.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Kommt drauf an was man unter hochfrequenter Welligkeit versteht.
Nach meiner Definition lässt sich diese mittels FFT Auswertung sehr wohl bestimmen.
Wenn Du darunter die Mikrorauheit verstehst natürlich nicht.
Ich will‘s mal mit Zahlen Definieren.
Unter richtiger Rauheit verstehe ich Fehler deren laterale Ausdehnung in Relation zu den Höhenunterschieden ein Verhältnis von sagen wir mal maximal 1 zu 10000 aufweist.
Über den konkreten Punkt können wir gerne diskutieren.
Die Welligkeit beginnt dann logischerweise bei Verhältnissen über 1 zu 10000.
Kais Sinuswelle mit lateral 2mm und in der Höhe 2nm fällt mit einem Verhältnis von 1 zu einer Million also klar in den Bereich der Welligkeit.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Und erst Recht kann man daraus keine Rauheit im Sub-Millimeter Bereich bestimmen. <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Deshalb hab ich ja auch nicht von Rauheit sondern von hochfrequenter Welligkeit gesprochen.
Ich unterscheide hier ganz klar!
Zu Deiner Bemerkung bezüglich der wenigen Streifen.
Es ist zwar richtig das man mit mehr Streifen ein höheraufgelöstes Ergebnis bekäme aber auch die Auswertung dieses I-Gramms bringt schon eine klare Aussage.
Wir müssen nicht um ein paar Nanometer beim RMS feilschen. Der Anteil der hochfrequenten Welligkeit am Gesamtfehler ist hier derart gewaltig das sich an der Grundaussage absolut nichts ändert wenn man mit mehr Streifen arbeitet.
Außerdem ist die erhebliche Welligkeit allein schon an den „rauen“ Streifen offensichtlich.
Darüber hinaus ist das I-Gramm und dessen FFT Auswertung nicht der einzige Nachweis.
Alois hat das Streulicht schließlich auch am Lichtspalt klar nachgewiesen.
Außerdem bestätigen Foucault und auch der Lyottest die hochfrequente Welligkeit dieser Optik.
Grüße Gerd