hallo,
ich bitte um Nachsicht, vielleicht ist vielen Schleifern das aus eigener Arbeit ja völlig klar, nur ich habe da noch gewisse Probleme.
Ich versuche das also für mich zusammenzufassen, und ihr werdet mich korrigieren und ergänzen wo ich fröhlich ins Fettnäpfchen steige.
Alois erwähnt in seiner Einleitung die Rauheitsgrade A, B, C, D, E und bringt Beispielbilder. Interessant finde ich auch das Bild vom Profil der FFT
des Reibeisen-Cassis, worin die Zonen markiert sind und wie weit sie das Licht im Verhältnis zum Durchmesser der Airy Disk aus dem Fokus lenken.
Das ist aber eindeutig primary ripple.
Kai bringt nun Beispiele von ca 1mm breiten und 2nm tiefen periodisch gerieften Oberflächen, und lässt die Streuwinkel berechnen. Er zeigt dann den Sterntest einer 3mm gerieften Oberfläche, und wie wenig Streulicht das verursacht. Wie kann übrigens eine 3mm Fläche so einen Sterntest produzieren? Wie verhält sich das zu den von Alois angegeben Rauheitsgraden A, B, C, D, E? Die sind ja allesamt auf viel kleinerer Skala. Kais Beispiel auf der 1mm Dimension zeigt, je kleiner die Struktur desto grösser der Streuwinkel, und je tiefer die Struktur desto mehr Streulicht. Also werden die Streuwinkel bei den viel kleineren Skalen A, B, C, D, E viel grösser sein, und das Streulicht viel weiter gestreut.
Die von Suiter gebrachte Simulation der Mikrorauheit und die Übersetzung von rms über die Taylor-Näherung der Strehlformel kann ich gut nachvollziehen. Er verwendet einen Zufallsgenerator um Höhen zuzuordnen und nimmt die Wurzel und normalisiert. Die Korrelationslänge der Ripples ist um einen Millimeter herum. Die MTF sackt anfangs scharf ab und verläuft dann in mehr oder weniger konstantem Verhältnis zur idealen Oberfläche. Ist die Rauheit auf geringerer Korrelationslänge, im Sub mm Bereich, wird die MTF sich genauso verhalten - vorausgesetzt die Rauheit folgt einer Zufallsverteilung. Gegenbeispiel Beugungsgitter.
Kais Beispiel ist ja eigentlich ein sehr grobes "Beugungsgitter", und deshalb sehen wie auch die schwachen peaks in der PSF, Licht welches bei einem Zufallsmuster auch im Streubereich zufällig verteilt wäre.
Weit gestreutes Licht bei den Rauheiten A, B, C, D, E und geringe Streuungskoeffizienten wie 0,01 bis 0,05% bei den in Frage kommenden rms Werten lassen dann das Streulichtproblem eher gering erscheinen, zB im Verhältnis zur FS-Spinne (Suiter berechnet 0,5%) oder Staub (0,1%).
Streulicht von Microripple im Winkelbereich ca. 3 Jupiterdurchmesser, wie Vernet bei astrosurf angibt, wären äquivalent etwa zu Skalengrössen 1-2mm laut Kais Beispiel. Wenn ich das in Beziehung setzen darf.
Die Quantifizierung der Mikrorauheit im Mikrobereich, also auf Ausdehnungsskalen unter 0,1mm wie auf Alois Nomarksi Bildern, das wäre für Amateure die nicht über ein solches DIC Mikroskop verfügen, dann also nur interessant um den rms auch in fein aufgelöster Stichprobe zu bestimmen.
sorry wenn ich da viel Unsinn schwatze, sonst krieg ichs nicht unter einen Hut. Hab nur Schmalspur Ingenieur Ausbildung 
lg Tommy
