Hallo Frank,
ich weiß der Thread ist schon sehr lang, daher sei Dir verziehen.
Es geht nicht nur um die letzte Aufgabe von Kai sondern um jene die schon ganz am Anfang gestellt wurde.
Da geht es um eine Sinuswelle!
Grüße Gerd
Hallo Frank,
ich weiß der Thread ist schon sehr lang, daher sei Dir verziehen.
Es geht nicht nur um die letzte Aufgabe von Kai sondern um jene die schon ganz am Anfang gestellt wurde.
Da geht es um eine Sinuswelle!
Grüße Gerd
Hallo Horia,
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Man kann, so wie du und Kai es gemacht haben, entweder mit Zahlen der schlechten oder der guten Politur es tun.
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
na ja es geht hier ja darum ob Rauheit bzw. eine hochfrequente Welligkeit wie sie im Lyot Test sichtbar ist ein Problem darstellt oder nicht.
Das es bei einer super Politur keines ist darüber sind sich doch alle Seiten einig.
Das muss hier also auch niemand beweisen.
Es geht darum ob sie bei einer schlechten Politur Probleme machen kann und daher muss man natürlich dann auch mit den Zahlen einer schlechten Politur arbeiten wenn man das rausfinden will.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Hier hast du leider das RMS-Prinzip falsch verstanden. Eine gute Erklärung z. B. hier: http://de.wikipedia.org/wiki/Effektivwert<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Wenn Du und Michael den Faktor zustimmt macht mich das schon nachdenklich.
Allerding überzeugen könnt ihr mich nur mit einer entsprechenden Herleitung.
Ich habe die Meine bereits dargelegt.
Betrachten wir das mal konkret am Beispiel Wechselspannung so wie es auch in Wiki gehandhabt wird.
Der auf Wiki beschriebene Effektivwert U eff =1/wurzel 2*U gilt wenn die Richtung des Stroms keine Rolle spielt für beide Halbwellen.
Möchten wir zb. die Leistung errechnen nach der Formel P = U * I benötigen wir den Effektivwert.
Für die Leistung P ist es unerheblich in welche Richtung der Strohm fließt.
Der eigentliche Lastverlauf ist hier keine Sinuswelle sondern die Aneinanderreihung beider Halbwellen so wie das bei einer Gleichrichtung mit Brückengleichrichter der Fall ist.
http://de.wikipedia.org/wiki/Gleichrichter
Uns interessiert nun aber nicht der RMS so einer Aneinanderreihung von Halbwellen sondern der der gesamten Sinuswelle mit PV von Wellental zu Wellen Berg.
Hier wäre jetzt eure Herleiten gefragt.
Man kann für den RMS jetzt nicht einfach mit Faktor 2 artbeiten.
Ich verstehe unter RMS den nach Fläche bzw. im Falle einer 2 dimensionalen Welle nach Länge gewichteten Durchschnitt.
Es erschein mir bei der Sinuswelle logisch das dieser exakt auf halber Höhe also halben PV liegt.
Es steht auf halber Höhe ( um im Beispiel Wechselstrom zu bleiben bei Spannung 0 ) einem Wellenberg immer das passende Wellental gegenüber.
(==>) Michael
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Ich kann deine Berechnung leider nicht nachvollziehen. Bitte beschreibe genauer was du hier gemacht hast. Wo kommen die Daten her, was versuchst du daraus zu berechnen, was wird in den Bildern dargestellt, und in welcher Beziehung stehen die Bilder zu deiner Berechnung?<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Ich habe doch eigentlich alles beschrieben.
Die Bilder und damit die Strehlwerte kommen von Alois, siehe Eingangsbeitrag.
Erklärungen dazu bitte im Eingangsbeitrag von Alois nachlesen.
Da Alois leider keinen RMS angegeben hatte habe ich diesen aus dem Strehl den Alois angegeben hat errechnet.
Der Grund für diese Rechnung liegt darin den Anteil der reinen hochfrequenten Welligkeit am Gesamtfehler zu ermitteln.
Dieser muss logischerweise die Differenz von Gesamtfehler ( Strehl 0,5 bzw. RMS 72,6nm) und dem Fehler der nur die niederfrequente Welligkeit berücksichtigt ( Strehl 0,86 bzw. RMS 34,1nm) sein.
Hier komme ich wie ich ausführlich vorgerechnet hatte auf einen Wert von RMS 64,1nm.
Was ist Dir hier Unklar?
Die Beziehung zwischen RMS und Strehl ist Dir mit Sicherheit bekannt und wie man mit 2 RMS Werten umgeht doch mit Sicherheit auch.
Du solltest also problemlos meine Rechnung nachvollziehen können.
Grüße Gerd
Hallo Rolf,
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Vielleicht sind die Grundannahmen, ab deren gerechnet wird, unvollkommen.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
na ja die theoretischen Grundlagen sind schon weitestgehend die Richtigen.
Allein die Größenordnung der angenommenen Fehler ist das Problem.
Natürlich wenn ich winzige Fehler annehme dann verwundert es auch nicht wenn dann beim Rechenergebnis rauskommt das diese zu vernachlässigen sind da deren Auswirkung nahezu bedeutungslos ist.
Sicher das hat uns der Kai schön vorgerechnet, dass aber die angenommenen Werte für eine mögliche hochfrequente Welligkeit viel zu klein sind interessiert Ihn nicht und offenbar auch sonst niemanden hier.
Hochfrequente Welligkeit ist das was im Allgemeinen irrtümlicherweise als Rauheit angesehen wird da es zb. im Lyot Test diesen Eindruck erweckt.
Kais Sinuswelle ist hochfrequente Welligkeit.
Mit der Echten Mikrorauheit hat das allerdings noch nichts zu tun.
Nun hat uns Alois aber schon in Seinem Eingangbeitrag gezeigt das es hochfrequente Welligkeit sehr wohl im beträchtlichem Ausmaß geben kann und sich diese dann geradezu dramatisch auf die Abbildung auswirkt.
Und das obwohl Fehler niederfrequenter Welligkeit bzw. der globalen Form viel geringer ausgeprägt sind.
Rechnet man den Strehl in RMS um so ergibt die klassische Auswertung welche nur die globale Form und niederfrequente Welligkeit berücksichtigt.
Strehl 0,86 = RMS 0,062 lambda bzw. RMS 34,1 Nanometer
Inklusive der hochfrequenten Welligkeit wie sie nur durch FFT zu erfassen ist ergibt sich.
Strehl 0,5 = RMS 0,132 lambda bzw. RMS 72,6nm
Zieht man vom Gesamtfehler RMS 72,6nm den Fehler für die niederfrequente Welligkeit mit RMS 34,1nm ab dann erhält man allein für die hochfrequente Welligkeit einen Fehler von
Wurzel aus (72,6^2 – 34,1^2) = 64,1nm
Fehler allein der hochfrequenten Welligkeit = RMS 64,1nm! [:0]
Fehler der niederfrequenten Welligkeit = RMS 34,1nm
Das führt Kais Theorie das hochfrequente Fehler zwangsläufig wesentlich kleiner sein müssen als niederfrequente Fehler ad absurdum.
Hier hatte ich meine Sichtweise dazu erläutert.
http://forum.astronomie.de/php…Qualitat_1_6_1#Post985732
Leider kann er sich nicht von Seiner Sichtweise trennen und rechnet daher trotz des von Alois schon im Eingangsbeitrag gebrachten Beispiels stur mit ganz winzigen Fehlern.
Seine Sinuswelle mit 2 bzw. 4nm PV also RMS 1nm bzw. RMS 2nm ist geradezu lächerlich gegen die von Alois gemessene hochfrequente Welligkeit mit RMS 64,1nm.
Die Berechnung des RMS der Sinuswelle von Kai mit dem Umrechnungsfaktor 2 * Wurzel 2 also 2,8 ist übrigens falsch.
Es ist zwar richtig das sich der Effektivwert also der RMS einer Halbwelle aus Amplitude der Halbwelle /Wurzel 2 berechnet aber das bedeutet nicht das der RMS der gesamten Welle dann einfach mit Gesamthöhe / (2* Wurzel 2) zu berechnen wäre so wie es Kai annimmt.
Der RMS lässt sich nicht einfach nach dem Schema Wert A + Wert B = Gesamtwert addieren.
Der RMS addiert sich wie folgt
RMS gesamt = Wurzel (Wert A^2 + Wert B^2)
Es ergeben sich für eine Sinuswelle mit der Gesamthöhe ( 2* Amplitude) von 2nm also für jede Halbwelle Effektivwerte von (die Amplitude ist ja 1nm) 1nm / 1,41 = RMS 0,71nm.
RMS Gesamt ist demzufolge Wurzel aus (0,71nm^2 *2) = 1nm
Man kann es natürlich auch einfacher haben wenn man simpelste Logik an den Tag legt.
Teilt man die Sinuswelle exakt in der Mitte in 2 identische Halbwellen steht jedem Wellenberg exakt das gleiche Wellental gegenüber.
Logischerweise ist der RMS daher also Gesamthöhe der Welle / 2 und nicht 2,83 wie es Kai behauptet.
Das ist auch ein Kommentar zu.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Da rechne bitte von 2nm PTV oder 4nm PTV den RMS aus. Wenn Du kannst.
Dann reden wir weiter. Wobei das "wir" nur eine theoretische Option ist.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Aber zurück zum eigentlichen Thema.
Halten wir fest.
Es kann sehr wohl hochfrequente Welligkeit im beträchtlichen Ausmaß geben.
Diese wird von der klassischen Streifenauswertung nicht erfasst!
Es kann daher wegen dieser hochfrequenten Welligkeit auch bei Optiken die in der klassischen Streufenaswertung gut abschneiden zu einer erheblichen Kontrastminderrung kommen.
Also auch dann wenn die niederfrequente Welligkeit noch ganz harmlose Werte aufweist.
Hochfrequente Welligkeit ist das was irrtümlicherweise oft als Rauheit bezeichnet wird.
Hochfrequente Welligkeit ist das was im Lyot Test sichtbar wird.
Wer den Begriff der Rauheit für hochfrequente Welligkeit verwendet hat damit absolut recht wenn Er auf deren Wichtigkeit hinweist und versucht diese im Rahmen seiner Möglichkeiten zu untersuchen.
Wer nur Streifenauswertung betreibt tut gut daran mit dem Lyot Test die Optik auf eine relevante hochfrequente Welligkeit hin zu überprüfen.
Es sei ihm aber trotzdem unbedingt der Umstieg zur FFT Auswertung empfohlen da nur diese eine vernünftige Quantifizierbarkeit ermöglicht.
Die Unzulänglichkeiten des Lyot Testes wurden hier beschrieben, ändern aber nichts daran das dort sichtbare „ Rauheit“ durchaus ein Problem sein kann (nicht zwangsläufig sein muss).
Grüße Gerd
Hallo Tommy,
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Allein: (Mikro)Rauheit ist bei Fotografen kein Thema, und es gibt meines begrenzten Wissens
nach niemanden dem da jemals etwas aufgefallen wäre. Im Gegenteil, viele Planetenfotografen verwenden SCTs mit ihren unpolierten gerieften Schmidtplatten und erzielen beste Resultate damit! Da sieht die Rauheit manchmal so aus:
http://www.teleskop-shop.at/te…EHD_startest_Beta_Tau.jpg
http://www.teleskop-shop.at/te…D_Ronchitest_Beta_Tau.jpg
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
wenn es um Kontrast geht dann können wir Foto und digitale Bildbearbeitung mit deren Möglichkeiten der Kontrastverstärkung nicht so einfach mit der visuellen Beobachtung vergleichen.
Du wirst daher vergebens nach fotografischen Beweisen für visuell wahrgenommene Kontrastvorteile glatter Polituren suchen.
Wir hatten das Thema ja schon bei der Obstruktion, auch da kann man Foto nicht einfach mit der visuellen Beobachtung vergleichen.
Sicher das wäre schön so Fotos zu haben die man hier reinstellt und Jeder sieht den Unterschied aber das kann nur ein frommer Wunsch bleiben.
Die visuelle Erfahrung etlicher Leute das glatte Spiegel Vorteile haben lässt sich nur visuell verifizieren und da muss halt Jeder Selbst durchs Teleskop schauen wenn Er sich Persönlich davon überzeugen will.
Ansonsten bleibt da erst mal nur das man‘s den Leuten halt glaubt oder eben nicht oder schlicht sagt ich weiß es nicht was ich da jetzt glauben soll, die Sache ist unklar.
Im Zweifel bevorzuge ich immer die letztere Option.
Der Mensch ist schon ein eigenartiges Geschöpf, er will unter allen Umständen eine Antwort auf all seine Fragen und mag es so ganz und gar nicht sich mit einem „kann man nicht sagen“ abzufinden.
Es gibt sie aber die Fragen auf die es keine verlässliche Antwort gibt.
Dann gerät die Geschichte zur Glaubensfrage und Jeder glaubt Seine Sicht wäre dann die Richtige und man streitet bis aufs Messer.
Ich weiß nicht was das soll.
Es wäre doch so einfach mal die Realität anzuerkennen und zu sagen man weiß es schlicht nicht genau und gut ist.
Grüße Gerd
Hallo Kalle,
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Dein ein paar Postings vorher erwähntes irdisches Fremdlicht ist meines Erachtens eine Standort- und Tubusdesignfrage, weniger eine der Spiegelqualität<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
da will ich Dir nicht wiedersprechen weil Du die Spiegelqualität nicht ganz ausschließt.
Neben den genannten Faktoren sollte man aber auch in diesem Punkt die Qualität optischer Oberflächen nicht völlig vernachlässigen.
Da geht es auch nicht nur um den einen Spiegel.
Schon ein Newton hat 2 Spiegel und es gibt Optiken mit noch mehr optischen Flächen.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Warum arbeitet man bei Fremdlicht und ihren Einfluss nicht einfach über die Kontrast-Übertragungsfunktion? <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Zum einen weil diese nun mal kein Fremdlicht berücksichtigt.
Die MTF wird aus der PSF also einer Punktabbildung gebildet und die berücksichtigt nur das Licht einer Punktlichtquelle, also exakt parallel einfallendes Licht.
Licht von benachbarten Lichtquellen das unter Umständen um ein vielfaches heller ist wird nicht berücksichtigt.
Zum anderen weil es na ja zumindest Uneinigkeiten unter den Experten darüber gibt wie man die Mikrorauheit in den Wellenfrontfehler aus den man die PSF respektive die MTF errechnet einbinden soll.
Wesentlich geeigneter erscheint mir der von Horia eingebrachte TIS zur Beurteilung von Streulicht wegen Mikrorauheit.
Grüße Gerd
Hallo Eberhard,
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Ich denke viele Amateure sind da lieber auf die praxisnahe Umsetzung gespannt, also eine relativ einfache, bezahlbare Messmethode, um glatte Spiegeloberflächen zu qualifizieren.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
das wird sicher so sein, allerdings sind die Selbstschleifer doch ne relativ kleine Gruppe.
Ich halte es auch für wichtig an die wesentlich größere Gruppe zu denken die sich Ihre Optik kauft.
Sicher die meisten Akteure hier sind Selbstschleifer und diskutieren das was Sie nun ganz speziell beim Selbstschliff interessiert.
Das ist aber nicht immer das was dann der breiten Masse wirklich weiterhilft.
Der Selbstschleifer hat alle Zeit der Welt um seinen Spiegel in Monatelanger Hingabe sanft zu seinem Optimum zu „streicheln“
Der kommerzielle Optik Hersteller muss nach dem Motto Zeit ist Geld in kürzester Zeit das gute Stück fertigen damit es bezahlbar bleibt.
Das dürfte sich auch auf die glätte der Politur auswirken.
Wenn wir hier darüber diskutieren sollten wir also auch an kommerziell gefertigte Optiken denken und dann auch an solche mit mehreren optischen Flächen wie zb. SCs oder Maks
Freilich dem Selbstschleifer ist das Wurst wie es sich mit dem Einfluss der Glätte der Politur einer Schmidplatte auf das Streulicht verhält, der wird sowas in der Regel nicht schleifen.
Der Optik Käufer interessiert sich schon dafür ob das neue SC oder der Mak auch das hält was ein möglicherweise beiliegendes Zertifikat mit tollem Strehl verspricht.
Für kommerziell gefertigte Optiken wäre doch eher das interessant.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">DICM hat den Vorteil, das dieses Analyse-Instrumente aus drei Eigenschaften bestehen: Einem großen lateralen Auflösungsvermögen bis zu wenigen Angström, einer einfachen Handhabung und damit keinem langwierigen Meßverfahren und schließlich der Verwendbarkeit für beschichtete und unbeschichtete Oberflächen!
Diese Eigenschaften ermöglichen es, die Beschaffenheit der optischen Oberfläche während des Polierverfahrens zu überwachen; So wie es in der Serienfertigung heute angewendet wird. Man eicht dabei über Röntgenlichtstreuung die DICM-Aufnahmen. In der Optik-Fertigung greift man bei der Qualitätskontrolle (Vergleichsmessung) sehr gern auf diese Methode zurück, denn Sie lässt sich auch wirtschaftlich gut darstellen.
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Wenn das wirtschaftlich ist dann sollte man darauf drängen das zumindest Optiken im oberen Preissegment entsprechende Nachweise mitgegeben werden.
Grüße Gerd
Hallo Alois,
schön das Du uns mal mit konkreten Zahlen zu den verschiedenen Polituren dienst.
Auf ein paar % Toleranz kommt es ja nun wirklich nicht an.
Wir müssen also mit einer Mikrorauheit so zwischen 8 und 40 nm PV bei Pech Polituren rechnen.
Wobei nicht ganz klar ist ob das nun Oberfläche oder Wellenfront ist.
Das sind immer noch recht kleine Werte, zeigt aber deutlich das es müßig ist sich mit einer Welligkeit zu befassen die im Bereich von 2 nm PV liegt wenn die Mikrorauheit im ungünstigen Fall bei 40nm PV liegt.
Wenn wir den Vorteil von besonders glatten Polituren beweisen wollen sollten wir das natürlich mit Blick auf mögliche Nachteile weniger glatter Polituren tun.
Also schon mit den 40nm PV rechnen.
Es bestätigt also das mein Einwand bezüglich der Beschäftigungstherapie mit der 2 nm PV Welligkeit die dem gemeinen Volk hier vom Schulmeister aufgegeben wurde seine Berechtigung hatte.
Es ist irreführend bei der Welligkeit mit 2nm PV zu rechnen wenn die Mikrorauheit bei 40nm PV liegt.
Wenn es ums Streulicht geht sollten wir uns auch nicht nur auf exakt senkrecht einfallendes Licht beschränken.
Es ist mit Fremdlicht aus den unterschiedlichsten Richtungen zu rechnen das zum Teil um ein vielfaches Heller als das Beobachtungsobjekt ist.
Grüße Gerd
Hallo Kai,
oh je jetzt fällst Du ja völlig aus der Rolle und zeigst was Du für einer bist.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">(Und kauf Dir mal eine Tüte Deutsch, vor allem Kommas, mich hat's auch geholft)<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Bist Du tatsächlich derart hilflos und unfähig mir mit Sachargumenten entgegenzutreten das Du Dich nun schon an meiner Orthographie hochziehen musst?
Ist das Dein letzter Strohhalm?
Mein Gott wie erbärmlich ist das denn.
Grüße Gerd
Hallo Stefan,
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Können diese normalen Messmethoden dann auch diese Rauigkeit erfassen oder bleibt die dabei verborgen? Auch das wäre doch mal eine Frage, die es zu beantworten gäbe.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
genau das ist der Punkt um den sich letztlich die gesamte Kontroverse dreht.
Dabei wird auch ständig Welligkeit mit Mikrorauheit verwechselt.
Echte Mikrorauheit wie Sie Alois mit dem Weißlichtinterferometer gemessen hat wird mit den schönen Zertifikaten nicht erfasst.
Der Strehl ist da auch ein eher ungeeignetes Mittel sowas zu berücksichtigen.
Wirklich aufschlussreich wären nur eine Stichprobe der Oberfläche mit Weißlichtinterferometer.
Wie es Aussieht gibt es mit dem TIS ein geeignetes Instrument diese Messungen dann zu interpretieren.
Hier wäre es sehr hilfreich für diverse Politurglätten auch mal entsprechende Messwerte der echten Mikrorauheit zu haben und daraus den TIS zu berechnen.
Dann wüssten wir woran wir sind.
Grüße Gerd
Hallo Horia,
sehr interessante Tabelle und der „TIS“ scheint mir endlich mal ein brachbares Kriterium um die Mikrorauheit zu beurteilen.
Sehr Gut ist auch Dein Vergleich mit dem Beugungsbedingten „Streulicht“ das schafft da eine Relation mit der man letztlich den TIS vernünftig interpretieren kann.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Nicht zu vergessen, 4nm RMS-Wert als Rauheit sind mindestens 10nm PtV Rauheit. Das kann man ohne Probleme in einem richtig gemachten Foucault-Bild sehen.<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Lieber Horia bitte bitte unterscheide zwischen Formfehlern und Welligkeit mit größerer lateraler Ausdehnung und der echten Mikrorauheit.
Formfehler und Welligkeit lässt sich mit Foucault gewiss auf 10nm Pv bestimmen.
Aber ganz gewiss nicht die echte Mikrorauheit mit lateraler Ausdehnung im Mikrometerbereich um die es uns hier geht.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Auch wenn ich nicht der Kai bin: Diese verblüffende Eigenschaft wird in der Literatur verschiedenen Materialien zugesprochen. <hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Wir müssen unbedingt zwischen Welligkeit,globalen Formfehlern und der Mikrorauheit unterscheiden!
Wichtig ist auch die Laterale Ausdehnung der globalen Formfehler und der Mikrorauheit zu betrachten.
Laut Kais Theorie hätte ein Spiegel mit 200mm Durchmesser und einem globalen Formfehler mit sagen wir mal 100nm PV Oberfläche bei 20mm Lateral dann maximal 10nm Pv und bei den 0,1mm die Alois zb. mit dem Weillichtinterferometer untersucht hat dementsprechend maximal 200mm/0,1mm 1/2000 also 100nm /2000 = 0,05nm PV.
Man könnte das wenn man die Mikrorauheit ignoriert tatsächlich so rechnen wenn der globale Formfehler absolut gleichmäßig verlaufen würde.
Aber es gibt sie nun mal die Mikrorauheit und Alois hat selbst bei der absoluten Super Politur 3nm PV gemessen.
Bei einer normalen Politur kommt man auf wesentlich größere Werte und trotzdem kann der globale Formfehler auf 100nm PV genau eingehalten sein.
Wenn nun noch ein paar Pits oder Kratzer vorhanden sind käme man auf dramatische PV Werte bei der Mikrorauheit.
(==>) Alois,
Würdest Du es wagen mal abzuschätzen welchen RMS die Polituren BILD B bis C haben?
Eventuell hast Du ja ne Vergleichsmessung mit dem Weißlichtinterferometer für solche Polituren.
Dann könnte man auch mal den TIS für nicht ganz so super perfekte Polituren berechnen.
Grüße Gerd
Hallo Kurt,
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">um den Alois zu entlasten, konkrete Zahlen von ihm findest du bereits in der Diskussion:
http://www.astrotreff.de/topic…OPIC_ID=11979&whichpage=2
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
ja da findet sich auch ne Auswertung mit dem Weislichtinterferometer, allerdings nicht für die fragliche Fläche sondern wieder nur für ne super Politur.
Mich interessiert aber PV und RMS von der Politur Bild A und zwar inklusive der korrekten Erfassung der dort sichtbaren Mikrokratzer, vor allem des größeren Exemplars.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Damit es nicht zu anstrengend wird: Bitte sag uns unter welchem Thread in welchem Beitrag haben wir mit dir zur Sache gestritten?
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Ich hatte ja schon angesprochen worum wir da inhaltlich auseinanderlagen, da solltest Du Dich eigentlich dran erinnern , so lang ist das ja nun wirklich nicht her.
Aber gut es hatte sich hier zugetragen.
http://forum.astronomie.de/php…Qualitat_1_6_1#Post985732
Ich erinnere noch mal.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Das ist ne spannende Geschichte.
Allerdings sind Deine „Rillen“ zwar 0,4mm breit aber eben nur 0,00013mm trief.
Also etwas über 3000 mal breiter wie tief!
Auch das sind also sehr sehr flache Wellen und keine wirklichen Rillen.
Logisch bei 0,24 Lamda Tiefe so einer kleinen Welle würde ich auch ganz ohne OpenFringe zum Schluss kommen das die vernachlässigbar sind.
Mich interessieren hier eher echte Rillen die fast so breiut wie tief sind.
Sagen wir mal 0,005mm breit und 0,002mm tief also 0,002/0,00055= 3,6 Lambda tief und nicht nur 0,24Lambda wie bei Dir um mal ne Größenordnung zu nennen wo ich hin will.
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Nun zufällig hat Alois exakt das was ich dort sehen wollte in Seinem Bild A.
Einen Kratzer mit etwa 0,005mm Breite und einer Tiefe die sich natürlich schlecht schätzen lässt aber so ganz grob könnten da rein zufällig 0,002mm durchaus im Bereich des Möglichen liegen.
(==>)Kai
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Fall A
Periodenlänge 1mm, Höhe 2nm (Höhe = Differenz zwischen Berg und Tal)
Fall B
Periodenlänge 1mm, Höhe 4nm
Fall C
Periodenlänge 2mm, Höhe 2nm
Fall D
Periodenlänge 2mm, Höhe 4nm
Gesucht ist jeweils der Streuwinkel bei senkrechtem Einfall.
Zusatzaufgabe: Berechne jeweils die Intensität des gestreuten Lichts in Prozent der einfallenden Intensität.
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Du solltest endlich mal von Deiner komischen Theorie runter kommen das Fehler in der Höhe automatisch mit der Lateralen Ausdehnung kleiner werden.
Was soll die Rechnung mit winzigen 2 bis 4nm Höhendifferenz?
Sogar die sehr gute Politur im Bild D gibt Alois mit 8nm PV Oberfläche an !
In welcher Welt lebst Du denn?
Du bist da absolut Praxisfremd, es ist vollkommen unsinnig hier mit 2 bis 4 nm zu rechnen.
Sowas wäre unter der Auflösung des Polarisationsmikroskops
So glatt schafft‘s wahrscheinlich nicht mal Zambuto !
Löse Dich endlich mal von Deiner irreführenden Theorie und betrachte realistische Höhenwerte, insbesondere die Politur Bild A solltest Du Dir mal vornehmen.
Ein Weiterer Fehler ist ausschließlich Licht mit senkrechtem einfall zu betrachten!
Wenn es um Streulicht geht und darum geht es hier ja wohl dann ist das gesamte die Optik treffende Licht aus den unterschiedlichsten Richtungen zu betrachten.
Es steht nicht nur 1 Stern am Himmel und es gibt auch Irdisches Licht das auf diese trifft.
Wie ist das mit dem Kratzer der vom knapp neben dem Gesichtsfeld stehenden Vollmond angestrahlt wird?
Aber wenn wir gerade bei Rechenaufgaben sind auch eine von mir.
Beobachtet wird ein enger Doppelstern.
Zwischen Komponente A und Komponente B besteht ein Helligkeitsunterschied von 10 Größenklassen.
Die Optik erzeugt für eine Punktabbildung Streulicht dessen Helligkeit im Abstand der beiden Komponenten bei 0,01% liegt.
Wie wirkt sich dieses Streulicht auf die Beobachtung von Komponente B aus?
Grüße Gerd
Hallo Alois,
schöne Arbeit, da kommen wir der Sache schon näher.
Ist ja ne umfangreiche Geschichte die Du da geliefert hast, da weiß man gar nicht wo man anfangen soll und es hat bisher ja auch noch keiner konkret was zu geschrieben.
Na ja da fang ich man an und komm gleich auf den Punkt der mich besonders interessiert.
<blockquote id="quote"><font size="1" face="Verdana, Arial, Helvetica" id="quote">Zitat:<hr height="1" noshade id="quote">Später konnte ich dann mit dem Weißlichtinterferometer arbeiten und da wurde es so richtig interessant.
Weil jetzt konnte ich auch Höhen und Tiefen Messen und das war eine tolle Herausforderung. Leider habe ich immer nur die besten Flächen gemessen
und habe keine Vergleiche für die gröberen Flächen. Es war ja der Fortschritt wichtig und die die Grenze zu finden wie weit kann man mit dem Normaski
Polaristionsmikroskop arbeiten. Dieses hatte die Grenze so bei 8 nm Mikrorauheit. Das entspricht dem Bild D von oben.
Hier das Protokoll der besten Fläche.
<hr height="1" noshade id="quote"></blockquote id="quote"></font id="quote">
Endlich kann mal Jemand an sowas ran und mit konkreten Zahlen zur echten Mikrorauheit dienen.
Alles was wir in der Vergangenheit diskutiert hatten waren doch eher Formfehler und nicht wirklich die Mikrorauheit.
Auch die FFT Analyse kann schließlich bei weitem nicht die laterale Auflösung liefern die Du uns hier mit dem Weißlichtinterferometer zeigst.
Das gilt letztlich auch für Foucault und Lyottest.
Schade dass Du nur für eine absolute super Politur so eine Messung hast.
Klar was soll bei der super Politur schon passieren da müssen wir nicht drüber reden.
Wirklich interessant wird es erst bei einer Politur wie Du sie mit dem Polarisationsmikroskop Bild A zeigst.
Da sind auch paar schöne Mikrokratzer ´zu sehen, genau das ist es was mich interessiert.
Das ist also wie Du schreibst das was man in den 70gern für ne gute Politur gehalten hatte.
Na ja wie muss es denn dann um die Schlechte bestellt gewesen sein.
Der lange Kratzer könnte schätzungsweise 0,005mm breit sein, das ist genau die Größenordnung die mich interessiert denn das erschließt sich nicht mit FFT.
Und ganz wichtig, der Kratzer scheint auch tief zu sein und zwar echt und nicht dramatisch übertrieben wie es die Höhenunterschiede der globalen Fehler in der Wellenfront Karte der FFT Analyse sind.
Was hatte ich mich da schon mit Kurt und Kai gestritten, genau um solche Kratzer ging es mir schon in vergangenen Diskussionen.
Kurt kam mit der FFT Analyse und hatte dann mal mit nem Bindfaden eine extrem flache Welle in nen Spiegel Poliert und meinte wie bedeutungslos die doch ist.
Ja sicher lieber Kurt wenn Du die nur paar Nanometer tief polierst dann müssen wir über die Bedeutung Deiner Welle nicht streiten, ja das kann man vernachlässigen.
Der Kratzer den Alois da mit dem Polarisationsmikroskop im Bild A zeigt ist aber nicht ein paar Nanometer tief wie Deine Weller mit dem Bindfaden sondern ein paar Mikrometer!
Den erfasst Du aber nicht mit FFT!
Und die unzähligen kleineren daneben schon gar nicht.
Sowas ist also offenbar keine Seltenheit bei einer Politur.
Alois schreibt sogar das sowas in den 70gern als gute Politur galt.
Alois wäre es Dir mal möglich von der Oberfläche die Du in Bild A zeigst eine Auswertung mit dem Weißlichtinterferometer zu machen?
Der lange Kratzer sollte möglichst mit erfasst werden so das wir mal PV und RMS so einer Oberfläche hätten.
Ich denke das ist ein wichtiger Punkt um in dieser Diskussion überhaupt weiter zu kommen.
Grüße Gerd